- 公共阻抗耦台2017/3/1 21:55:09 2017/3/1 21:55:09
- 公共阻抗耦合是由于骚扰源与敏感部位共用一个线路阻抗而产生的。M12L64164A-7TG最明显的公共阻抗是阻抗实际存在的场合,如骚扰源和敏感设备共用的导体;但公共阻抗也可以是由两个电流回路之间的...[全文]
- EMC设计的费效比2017/2/28 22:21:58 2017/2/28 22:21:58
- 总结多年来EMC技术与工业产品设计技术的发展,可得出解决EMC措施、成本与产品的开发、M64082AGP生产过程之间的关系,如图2-1所示。图2-1解决EMC措施、成本与产品的开发...[全文]
- 限值测量法2017/2/28 22:13:19 2017/2/28 22:13:19
- 测量抗扰度可能并不需要测量实际的抗扰度电平,如知道EUT是否满足限值就足够了。M27C512-12F1可将无用信号保持在某个限值电平上(而不是在每个试验频率上进行调节),并在整个试验范围内进行频...[全文]
- 限值测量法2017/2/28 22:13:18 2017/2/28 22:13:18
- 测量抗扰度可能并不需要测量实际的抗扰度电平,如知道EUT是否满足限值就足够了。M27C512-12F1可将无用信号保持在某个限值电平上(而不是在每个试验频率上进行调节),并在整个试验范围内进行频...[全文]
- 一些频率上的环境电平超过了限值2017/2/28 21:50:30 2017/2/28 21:50:30
- 如果在规定的测量范围内,M24C64-WMN6TP一些频率上的环境电平超过了限值,那么可以采用下列替代方法:(1)在较近的距离上进行测量,再将结果外推到规定限值的那个距离上,外推公...[全文]
- EUT的配置主要由以下因素确定2017/2/27 21:38:35 2017/2/27 21:38:35
- 对于军用设备和分系统,EUT的配置主要由以下因素确定。(1)EUT的搭接:DEI1016A搭接情况应与实际安装情况或设计要求一致。(2)EUT的朝向:依据国军标进行辐...[全文]
- EUT的配置主要由以下因素确定2017/2/27 21:38:35 2017/2/27 21:38:35
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- 电磁屏蔽室2017/2/27 20:59:20 2017/2/27 20:59:20
- 电磁屏蔽室是对电磁场起隔离作用的设各,按标准要求许多试验项目必须在屏蔽室内完成。D6283它是一个由低电阻金属材料制成的封闭室体,利用电磁波在金属体表面产生反射和涡流而起到屏蔽作用。当它与大地连...[全文]
- 电压探头2017/2/26 18:00:37 2017/2/26 18:00:37
- 电压探头也是可用于传导骚扰测量的一种特殊设备。电压探头如图1-6所示。K6T1008C2E-GB70接触式电压探头是由一个隔直流电容器C和一个电阻R串联组成的,使得电源线与地之间的总电阻值为15...[全文]
- 各部分功能2017/2/26 17:46:42 2017/2/26 17:46:42
- (1)传感器:被测信号的输入端口,它由电压探头、电流探头、各类天线等部件组成。KA278R05CTU根据测量的目的,可选用不同的部件来拾取信号。(2)输人衰减器:对外部进来的过大信...[全文]
- 各部分功能2017/2/26 17:46:42 2017/2/26 17:46:42
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- 电磁兼容类标准类别2017/2/26 17:41:45 2017/2/26 17:41:45
- 电磁兼容类标准通常可分为通用标准、产品/产品簇标准及基础标准。JCS3N25RT在进行电磁兼容测试时,优先选用产品标准(如GB19483无绳电话的电磁兼容要求及测量方法),没有产品标准时应选择产...[全文]
- 美国联邦通信委员会2017/2/25 21:14:05 2017/2/25 21:14:05
- 美国联邦通信委员会(肫deralCommunicationsCommi雨oll,FCC)在1979年特别制定各种产品的AD5820BCBZ电磁辐射干扰法规,法规编号从PartO~Pa⒒10O,涵...[全文]
- 电磁兼容工程师必须与产品设计师2017/2/25 21:06:02 2017/2/25 21:06:02
- 到了⒛世纪⒇年代,电磁兼容性工程已经从事后检测处理发展到预先分析评估、LB1836M-TLM-E预先检验、预先设计。电磁兼容工程师必须与产品设计师、制造商,以及各方面的专家共同合作,在方案设计阶...[全文]
- 电磁干扰及其危害2017/2/24 21:42:33 2017/2/24 21:42:33
- 在电磁环境中,IP4786CZ32电磁干扰造成的危害是各种各样的。下面列举一些电磁干扰可能造成的危害。(1)干扰电视机的收看、广播收音机的收听。(2)数字系统与数据传...[全文]
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- 测试控制器2017/2/24 21:27:24 2017/2/24 21:27:24
- a.B测试插孔。IP4223CZ6测试标准型管壳的半导体器件时,可用附件中的测试盒与之直接连接;而用作其他特殊测试时,应采用“香蕉”插头与导线作为插孔与被测器件之间的连接。b,A测...[全文]
- 串联电阻开关2017/2/24 21:22:17 2017/2/24 21:22:17
- 串联电阻开关:阶梯选择开关被置于电压/级位置时,串联电阻与半导体器件的输入回路串联,IP4220CZ6其作用是改变阶梯信号与被测管输入端之间所串联的电阻值。电流-电压/级开关(阶梯...[全文]
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