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干涉测量中就是利用这一性质改变光载波的特征参量2017-7-25 20:20:15
光波传播介质折射率和光程长度的变化都将导致相千光相位的变化,T6A39FG从而引起干涉条纹强度的改变。干涉测量中就是利用这一性质改变光载波的特征参量,以形成各种光学信息的。能够引起光程差发生变化...[全文]
目前光化学法有液态感光法和感光干膜法两种方法2017-7-20 22:44:12
目前光化学法有液态感光法和感光干膜法两种方法。液态感光法是采用液态光致抗蚀剂或抗电镀剂,经感光法形成图形。此方法S29GL064A90TFIR40适合制造高密度印制板的图形转移要求...[全文]
避免导线的交叉2017-7-18 20:06:33
在设计中,应当尽量避免导线的交叉。在单面板中,若碰到导线不得不交叉的情况,可以用绝缘导线跨接交叉点,不过这种接线应该尽量少。SGM9115印制导线的走向与形状在设计印...[全文]
双面印制电路板2017-7-18 19:51:41
双面印制电路板是指两面都有导电铜箔的印制电路板。如图3.1.5所示,双面板包括两层,即顶层和底层。SD3084双面板的两层都可以直接焊接元器件,两层之间既可以通过穿过的元器件引脚实现连接,也可以...[全文]
印制电路板用基材2017-7-17 20:27:43
印制电路板指的是搭载电子元件的基板,而基材即组成电路板的基本材料,印制电HCF4018BE路的制作均在基材上完成。基材主要指的是介电材料,其组成为树脂、增强剂及填充剂。基材主要是以...[全文]
导线的焊接2017-7-17 20:16:15
如图2.6.3所示,常用导线有单股导线、多股导线和屏蔽线等。导线焊接要求接头的接触电阻要小,接头应有是够的机械强度和良好的绝缘性能。HC4538D导线的焊接包括焊接前处理、预焊和焊接几个过程。...[全文]
集成电路的焊接2017-7-17 20:14:20
在手工焊接集成电路时,由于集成电路引线间距很小,要选择合适的烙铁头及温度,防止引线间连锡,HC4094D一般选择小于笱W的内热式电烙铁,且接地线应保证接触良好,若用外热式,最好采用烙铁断电余热焊...[全文]
万用表判别法2017-7-13 20:38:08
(1)PNP型、NPN型和基极的判别。将指针ICL3232EIV-16Z式万用表置于R×1kΩ挡,用黑表笔连接三极管的某一电极(假设其为基极),用红表笔分别连接另两个电极,若两次测量的阻值都很小...[全文]
上、下灯杆组件的连接2017-7-12 23:43:59
太阳电池组件和支架用M6×20的螺栓,M6的螺母、垫圈6紧固。安装时,应将螺H27UBG8U5ATR-BC栓由外向里安装,然后套上垫圈并用螺母紧固。紧固时要隶螺栓连接处连接牢固、无松动。...[全文]
用万用表检测太阳电池组件连线2017-7-12 23:42:40
依据太阳能LED路灯的系统电压和太阳电池组件的电压将太阳池组件连接好,如太H27UBG8T2BTR-BC阳能LED路灯的系统电压为24V,太阳电池组件的电压为17V或18V.就应将太阳电池组件进...[全文]
配合各种光源的使用产生了造型多姿多彩2017-7-12 23:31:41
电光源自19世纪80年代发明以来,至今已有100多年的历史。人类社会的发展,科学H1102NL技术的进步,使电光源技术获得了突飞猛进的发展,配合各种光源的使用产生了造型多姿多彩、风格各异的灯具,...[全文]
扩散工艺是将具有电活性的杂质,2017-7-7 21:05:43
扩散工艺是将具有电活性的杂质,在一定温度下,以一定速率扩散到衬底硅的特定位置,得到所MAX3041EWE+T需的掺杂浓度及掺杂类型。杂质在硅中的扩散掺杂一般采用两种方式:恒定表面源扩散和限定表面...[全文]
三层结构的器件由空穴传输层(HTL)2017-7-5 21:15:26
单层结构器件的正负两极之间只含有一层有机发光层,这种结构常用在掺杂型OLED中。MAX3042BESE这种结构的器件性能较差,由于两种载流子注入不平衡,所以复合概率小,发光效率低;由于器件中有机...[全文]
自由场测试法2017-7-4 20:39:55
由于电波暗室(吸波室(abs。rberhncdc・llamber))的空间较大,自由场测试法一般不限被测设各的体积大小,可容纳较大型尺寸的被测设备进行测试,它也比较容易使用CCTⅤ...[全文]
电压跌落、短时中断和电压渐变的抗扰度测试方法2017-7-3 20:48:57
电压跌落、短时中断和电压渐变的抗扰度测试方法测试的电压等级分为电压跌落和短时中断的测试等级INA199A2DCKR和电压渐变的测试等级,表B-6电压跌落和短时中断的测试等级;表B-...[全文]
浪涌测试方法2017-7-3 20:33:19
由于浪涌测试的电压和电流波形相对较缓,因此对测试室的配置比较简单。对于电源ISO124U/1K线上的测试,都是通过耦含/去耦网络来完成的。图B.⒛给出了单相电路和信号线的浪涌测试耦合原理。测试中...[全文]
电压跌落与中断测试引出电路设计与软件问题2017-7-2 20:18:29
【现象描述】某通信产品,额定工作电压为直流鲳Ⅴ。在进行INA121PA直流电源端口的电压跌落与中断测试时发现,电压在从鲳Ⅴ跌落到鲳Ⅴ的70%,跌落时间为0.3s和1s时,测试中出现...[全文]
减小串联在信号线上的电阻可通过测试2017-6-27 21:11:13
【现象描述】某产品的I/0信号端口不能通过EFT/B的±2kⅤ测试,分析其电路原理,最后断定是电路中的某一低速的控制信号线在测试过程中有误动作现象。OCH168TWAD测试中,开发...[全文]
TMPO1迟滞曲线2017-6-26 21:26:16
220Ⅴ交流电经过隔离变压器降压、整流、滤波后变成了σIN=贺Ⅴ。⒛Ⅴ再经过LMz~s76HⅤT变换后成为5ⅤⅤCCH,即控制电路的供电电源(此部分电源系统与设备中的其R。...[全文]
TⅤS移至磁珠的前面的原理2017-6-24 19:07:56
浪涌试验中采用电流波形为8u/20u、电压波形为1.2u√50us的综合波,即大部分的能量将在内释放。产品接口部分电路实际承受的电压与电流大小及波形与仪器的内阻及被测接口的阻抗有关。T33521...[全文]
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