面对集成电路测试得到的大量测试数据,需要用适当的方法来统计分析和整理,使之变为容易理解和便于使用的形式,如各种曲线、图表和统计结果等。VEJ102M1E1316-TR0用这些统计数据可以方便地鉴定器件质量,确定参数规范9分析产品失效原因,控制生产工艺等。

   常用于分析单个器件合成批器件的曲线与图表形式有:曲线图;SHM()O图/组合SHM(D图、三维图和等高线图等。

    测试成本

    集成电路的测试成本来源于测试设各与测试行为两个方面。测试设备方面的成本叉可以具体分成硬件与软件两部分。硬件方面:测试仪的购买和维护费用,包括测试控制(计算机和存储设备)、引脚电路(驱动/接收接和连接线。软件方面:测试软件的产生与维护,包括测试图形发生、测试设计验证(失效模拟与失效分析)以及相应的文件等。

   测试行为带来的消耗来源于测试时问和测试人员费用。

   测试时问:测试占用测试设备与计算机的机时、长时间测试(如老化测试)带来的隐蔽性消耗。

   测试人员:测试人员培训和工作时间的费用。

   随着电路规模和复杂性的不断增加,集成电路测试的成本已经占到整个生产成本的30%~10%。表141所示是不同被测电路的测试程序开发时间。