数宇电路测试方法
发布时间:2017/6/2 21:59:22 访问次数:386
前面讨论过,数字电路的测试分为直流特性测试、交流特性测试和逻辑功能测试等,其中逻辑VEJ221M0JTR-0606功能测试由于电路规模的不断增大、结构日益复杂,在测试时间和成本的要求下,成为逻辑型VI冫SI坝刂试的主要问题。以下对数字电路测试的讨论也将以逻辑功能测试为主。
数字电路测试涉及3个基本概念:输人测试向量、测试图形和测试序列。输入测试向量,也叫输人向量或测试向量,指并行加到被测电路直接输人的若干0、l的组合。例如,一个8输人被测器件,它的一个测试向量可为011lO011。
测试图形,输入测试向量与被测器件在施加此输人时的无错误输出响应的总称。测试序列,一系列理想情况下可以此判断被测器件有无失效的测试图形。测试序列有完全、简化、最简及伪随机等区别。
前面讨论过,数字电路的测试分为直流特性测试、交流特性测试和逻辑功能测试等,其中逻辑VEJ221M0JTR-0606功能测试由于电路规模的不断增大、结构日益复杂,在测试时间和成本的要求下,成为逻辑型VI冫SI坝刂试的主要问题。以下对数字电路测试的讨论也将以逻辑功能测试为主。
数字电路测试涉及3个基本概念:输人测试向量、测试图形和测试序列。输入测试向量,也叫输人向量或测试向量,指并行加到被测电路直接输人的若干0、l的组合。例如,一个8输人被测器件,它的一个测试向量可为011lO011。
测试图形,输入测试向量与被测器件在施加此输人时的无错误输出响应的总称。测试序列,一系列理想情况下可以此判断被测器件有无失效的测试图形。测试序列有完全、简化、最简及伪随机等区别。
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