高吞吐率逻辑诊断能力。随机分S606B-50布的逻辑电路区对系统成品率的损失机制(如图案处于光刻工艺窗边缘时)非常敏感。在达到随机缺陷限制的成品率之前,系统的成品率损失机制可以通过在产品设计时嵌入的逻辑诊断能力来进行应对,系统地加入到设计流程中去。由于不同的自动化测试码生成(Autom乩ic Tc“Pa钆emGener狨ioIl,ATPG)流程的适应性可能存在问题,当加载大量的逻辑诊断覆盖所需的测试矢量时,自动化测试设备的结构可能会导致测试时间和每个管芯的逻辑诊断时间的显著增加。

   随着晶体管在空间上的尺寸微缩逐渐达到极限,各种问题和挑战也就显现出来,尤其是通道控制效果降低、漏电流增加、短沟道效应出现等问题。这些问题会带来严重的后果,如晶体管的不当关闭、电子装置待机耗电量增加等。这对于目前的半导体产业和电子产业来说,无疑是无法满足需求的。