更换FET时的高频特性
发布时间:2012/5/21 19:48:49 访问次数:1126
为了分析FET高频特性劣MSP430F135IPMR化的原因,我们测定同一电路中仅仅更换FET时的频率特性。
图3.19是图3.1电路中用2SK241替换2SK184GR时的高频特性,这种高频放大用FET的频率特性优良,截止频率fch为15. 2MHz,约是2SK184的3倍。
图3.20是图3.1电路中采用功率开关用N沟MOSFET 2SK612 (NEC)时的高频特性。电压增益出现了峰值,ch为800kHz处的值降低。但是这是仅仅更换了FET的情况,如果重新设置工作点,还可以得到改善。
在高频范围电压增益下降的原因,如照片3.8所示主要是由于装机时装配不当,使高频特性受到影响。
为了改善高频特性,在实际装机时布线要短,尽量降低GND的高频阻抗,并且要采用屏蔽罩。
此外,与使用双极晶体管时情况相同,米勒现象也会使高频特性下降。
为了分析FET高频特性劣MSP430F135IPMR化的原因,我们测定同一电路中仅仅更换FET时的频率特性。
图3.19是图3.1电路中用2SK241替换2SK184GR时的高频特性,这种高频放大用FET的频率特性优良,截止频率fch为15. 2MHz,约是2SK184的3倍。
图3.20是图3.1电路中采用功率开关用N沟MOSFET 2SK612 (NEC)时的高频特性。电压增益出现了峰值,ch为800kHz处的值降低。但是这是仅仅更换了FET的情况,如果重新设置工作点,还可以得到改善。
在高频范围电压增益下降的原因,如照片3.8所示主要是由于装机时装配不当,使高频特性受到影响。
为了改善高频特性,在实际装机时布线要短,尽量降低GND的高频阻抗,并且要采用屏蔽罩。
此外,与使用双极晶体管时情况相同,米勒现象也会使高频特性下降。
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