剂量测试系统

   所谓剂量测试系统,M24C02-RDW6TP指的是电离总剂量辐照试验过程中对辐照剂量率和辐照总剂量进行测量的装置和方法。剂量测试系统的准确性和有效性是电离总剂量辐照试验的基础。理论上来说,受辐射物质中所引起的效应与吸收的辐射剂量,如电离、发热、发光等各种物理变化、氧化还原、裂解、聚合等许多化学变化或由此引的物理性质的变化,都可以作为辐射剂量测量的依据。目前主要的吸收剂量的测量方法有量热法、电离室法、化学法等。量热法是一种直接测定吸收剂量的绝对方法。其基本原理是,被辐照的物质所吸收的辐射能量全部用来使被辐照物质的温度升高,这样就可以通过测量被辐照物质温度的变化来确定所吸收的剂量。热释光剂量计就是采用量热法的一种剂量计,其材料为C盱2。

   电离室是由处于不同电位的电极和限定在电极之问的气体(一般为空气)组成,通过收集囚辐射在气体中产生的电子或离于运动而产生的电信号来定量测量电离辐射的探测器。图3-8所示为电离室剂量仪实物。

   图3-8 电离室剂量仪(米源于PTW网站)

   化学法足利用辐射在体系中引起的化学变化与体系吸收的辐射能量之问的定量关系来测定吸收剂量的方法,如硫酸亚铁剂量计。硫酸亚铁剂量计叉名F"cke齐刂量计,它是一种使用广泛、精度高、稳定性好的一种化学剂量计。

   正如前面所述,凡是提到吸收剂量,就必须指明是何种物质的吸收剂量。囚此,用剂量计测得的剂量只代表该剂量计的吸收剂量。例如,F1ˉit・ke剂量汁测得的吸收剂量是硫酸亚铁的吸收剂量;空气电离室测得的吸收剂量是空气的吸收剂量;热释光(C盱2)剂量计测得的吸收剂量是CaF2的吸收剂量。对半导体器件来说,吸收剂量通常是以Si吸收的剂量来表征,因此,进行试验时,均需将上述剂量计测得的吸收剂量转化为Si的吸收剂量。