试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验,用以确定非散热的电子电工产品(包括元件、设备或其他产品)低温下存储和使用的适应性。将处于室温的试验样品,按正常位置放入试验箱内,开动冷源,使试验箱温度从室温降低到规定试验温度并使试验样品达到温度稳定。箱内温度变化速率为不大于1℃灿in(不超过5min时间的平均值)。

M29W256GL

   试验Ad:散热试验样品温度渐变的低温试验,确定散热电子电工产品(包括元器件、设备或其他产品)低温条件下使用的适应性。

   有关技术和设各要求

   有关技术。若试验的目的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常工作,则试验的时间只限于使试验样品温度达到稳定即可;若作为与低温耐久性或可靠性相联系的有关试验时,则其试验所需的持续时间按有关标准规定。

   试验时要注意区分两类试验样品:无人工冷却的试验样品和有人工冷却的试验样品。无人工冷却的试验样品分为无强迫空气循环的试验和有强迫空气循环的试验,无强迫空气循环的试验,是模拟自由空气条件影响的一种试验方法。有强迫空气循环的试验,有两种方法。方法A适用于试验箱足够大,不用强迫空气循环也可满足试验要求,但仅能借助空气循环才能保持箱内的环境温度。方法B用于方法A不能应用的场合,例如,用作试验的试验箱体积太小,当无强迫空气循环就不能符合试验要求的场合。