内建自测试测试矢量生成的方式有以下几种:

   (1)第一种方法是将ATPG产生的测试矢量即刻储存在芯片内部的ROM中。定位测OB2354试矢量的数量相当大,会占用很大的芯片面积。

   (2)第二种方法使用线性反馈的移位寄存器(linear fcedback shift register,LFSR)产生伪随机(pscud⒍landom)测试矢董,这种方法产生的设计需求最少,是很好的解决方案。

   (3)第三种方法是使用计数器产生一个穷举测试矢量序列,但是这会耗费太多的测试时问.

   (4)第四种方法是I'FSR+ROM结合,是最有效的方法之一。首先采用LFSR作为原始测试模式,然后采用ΛTPG程序生成I'FsR漏失故障的附加测试矢量,附加测试矢量存储于芯片内ROM中,或嵌人到I'FSR的输出或扫描链中。