内建自测试
发布时间:2017/11/22 21:08:00 访问次数:614
内建自测试(build in self tcst,BIsT)字面的意义来说就是将测试的矢量生成(tcstpattem geneltator) OB2273和输出响应分析(output responsc analyzer)的结果判断电路设计内建在芯片之中。芯片内建自测试的好处有减小测试和维护代价,较低的测试生成代价,减小测试矢量的存储维护,使用较简单和便宜的ATE,可并行测试许多单元,缩短测试应用时间,可在功能系统速度下测试,等等。如图18.7所示为内建自测试与测试系统结构图。
内建自测试(build in self tcst,BIsT)字面的意义来说就是将测试的矢量生成(tcstpattem geneltator) OB2273和输出响应分析(output responsc analyzer)的结果判断电路设计内建在芯片之中。芯片内建自测试的好处有减小测试和维护代价,较低的测试生成代价,减小测试矢量的存储维护,使用较简单和便宜的ATE,可并行测试许多单元,缩短测试应用时间,可在功能系统速度下测试,等等。如图18.7所示为内建自测试与测试系统结构图。
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