PEM在ic失效分析中的应用包括以下几方面
发布时间:2017/11/14 20:45:58 访问次数:578
PEM在ic失效分析中的应用包括以下几方面。
PEM用于缺陷检测PIC16F688-I/SL
Shade把器件失效情况和发光情况的联系分为四类,如表14.1所示。
表14,1 器件失效与发光的联系
结对外加较大电压时,空间电荷区的电场较强,多数与反偏PN结相关的效应都有这种发光机制;工是电子空穴对辐射复合发光(艮PE),如CM()S电路中的闸锁失效引起的发光,发生闩锁时,两个寄生晶体管的发射结都正偏,寄生晶体管中流过很大的电流,从Fl产生发光,这时的结电流主要是耗尽区中注人载流子的复合。器件失效分析中大多数发光点来源于反偏结相关的效应。
PEM在ic失效分析中的应用包括以下几方面。
PEM用于缺陷检测PIC16F688-I/SL
Shade把器件失效情况和发光情况的联系分为四类,如表14.1所示。
表14,1 器件失效与发光的联系
结对外加较大电压时,空间电荷区的电场较强,多数与反偏PN结相关的效应都有这种发光机制;工是电子空穴对辐射复合发光(艮PE),如CM()S电路中的闸锁失效引起的发光,发生闩锁时,两个寄生晶体管的发射结都正偏,寄生晶体管中流过很大的电流,从Fl产生发光,这时的结电流主要是耗尽区中注人载流子的复合。器件失效分析中大多数发光点来源于反偏结相关的效应。
相关技术资料- 11-14PEM在ic失效分析中的应用包括以下几方面
- 11-5刻蚀晶边
- 3-25绕线电阻器的结构
热门点击
- 扫描电镜的分辨率
- 互连层RC延迟的降低
- Cu CMP产生的缺陷
- 俄歇电子
- 热点检测失效定位
- 先进工艺对Cu cMP的挑战
- 相位衬度
- 应力记忆技术的刻蚀
- 具有高MEEF的图形会减少全芯片的工艺窗口
- 失效模式:白动测试(ATE)连续性/开路
推荐技术资料
- 自制经典的1875功放
- 平时我也经常逛一些音响DIY论坛，发现有很多人喜欢LM... [详细]
公网安备44030402000607
