金属外壳屏蔽反而导致EMI测试失败
发布时间:2017/6/9 19:36:22 访问次数:1443
【思考与启示】
散热片虽然不是电子器件,本身不ECLAMP2396P.TCT会产生信号或干扰,但是它往往会成为传播信号或干扰的收发器,特别是在开关电源的设计中,散热片的设计对EMC测试结果将会产生很大的影响,合理设计散热片形状与安装方法,也是开关电源设计工程师需要考虑的。
金属外壳屏蔽反而导致EMI测试失败
【现象描述】
如图2,70所示的一个采用金属外壳“屏蔽”的AC/DC电源产品(“屏蔽”外壳上盖板没有在图中示出,“屏蔽”外壳上盖板与下盖板通过螺钉接触良好,螺钉之间间距为5cm)在进行辐射发射测试时发现不能通过,测试中还发现,将电源的金属“屏蔽”外壳去除后,测试反而能使通过。采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射测试结果频谱图和不采用金属“屏蔽”夕卜壳时的辐射发射测试结果频谱图分别如图2.71和图2.72所示。从图2.71和图2.72测试数据和曲线可以看出,两者的测试结果相差较大。采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射水平远高于不用金属外壳时的辐射发射水平,这似乎与电磁场屏蔽理论相违背。
【思考与启示】
散热片虽然不是电子器件,本身不ECLAMP2396P.TCT会产生信号或干扰,但是它往往会成为传播信号或干扰的收发器,特别是在开关电源的设计中,散热片的设计对EMC测试结果将会产生很大的影响,合理设计散热片形状与安装方法,也是开关电源设计工程师需要考虑的。
金属外壳屏蔽反而导致EMI测试失败
【现象描述】
如图2,70所示的一个采用金属外壳“屏蔽”的AC/DC电源产品(“屏蔽”外壳上盖板没有在图中示出,“屏蔽”外壳上盖板与下盖板通过螺钉接触良好,螺钉之间间距为5cm)在进行辐射发射测试时发现不能通过,测试中还发现,将电源的金属“屏蔽”外壳去除后,测试反而能使通过。采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射测试结果频谱图和不采用金属“屏蔽”夕卜壳时的辐射发射测试结果频谱图分别如图2.71和图2.72所示。从图2.71和图2.72测试数据和曲线可以看出,两者的测试结果相差较大。采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射水平远高于不用金属外壳时的辐射发射水平,这似乎与电磁场屏蔽理论相违背。
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