制作工艺的目的是为了在晶圆的内部或表面形成固态电子元件（晶体管、二极管、电容器和电阻器），AD8091ART-REEL7然后将萁用线连在一起形成电路。如果整个电路要达到高性能，那么每器件就必须达到单独的性能要求。在整个工艺中，器件电特性的测量被用于评估工艺和预测电子器件的性能。

   电阻率的测量

   在晶体生氏和掺杂工艺中，掺杂剂能够改变晶圆的电性能。被改变的参数便是电阻率，它是相对于电子流向的某一种材料特定阻抗的一种测量（如图14.1．所示）。对于给定的材料，电阻率是一个常数。而相同体积的同种材料的电阻则由长度和电阻率共同决定，其关系类似于密度和质量之间的关系。例如，钢的密度是·定的，而某一块的质量则取决于它的体积。

   电阻(剐的单位是欧姆(n)，电阻率的单位是欧姆·厘米(Q．cm)。因为对晶圆进行掺杂将会改变电阻率，因此测量电阻率事实E是间接测量掺杂剂的数量。