位置:51电子网 » 技术资料 » IC/元器件

试验目的、影响机理及失效模式

发布时间:2012/10/30 19:50:39 访问次数:645

    产品在运输、储存、发射和使用期间,可能W25Q80AVAIZ会经常受到短持续时间的随机形式的动态应力作用,如地震、爆炸,以及在运载工具上使用或通过运输工具运输时产品产生这些应力,其特性是在没有使样品的振动响应达到稳态条件时,即已消失,属非平稳随机振动范畴。
    研究这种瞬态振动产生的原因、对产品的影响机理及试验室的模拟技术,进而分析对电子产品的影响,以提高电子产品抗御这种非稳态振动的能力,应作为我们今后开展环境试验设备和环境试验技术研究的任务之一。
    与其他方法相比,这种方法避免了过试验的倾向。这是因为该方法能比较真实地重现产品实际所经受到的响应,对由于采用太保守的试验方法(这是当前在制定和确定经典试验方法的环境试验条件时普遍存在的)而产生过应力或疲劳的可能性将大大减小。
    瞬态时间历程的描述
    典型瞬态振动时间历程的波形如图6-49所示。

          
    对运载工具进行过现场振动实测的科技人员都知道,在实测到的时间历程信号中,往往有一定比例的类似上述波形的时间历程信号。由于技术上的种种困难,目前对现场振动实测信号的处理仅限于平稳随机振动,这类信号在随机信号的平稳性检验中都是被剔除的。然而在实际环境中是存在的,例如,火箭发射、歼击机做各种特技(战斗)动作和挖掘机采石等过程中都会出现如图6-49所示的振动时间历程。

    产品在运输、储存、发射和使用期间,可能W25Q80AVAIZ会经常受到短持续时间的随机形式的动态应力作用,如地震、爆炸,以及在运载工具上使用或通过运输工具运输时产品产生这些应力,其特性是在没有使样品的振动响应达到稳态条件时,即已消失,属非平稳随机振动范畴。
    研究这种瞬态振动产生的原因、对产品的影响机理及试验室的模拟技术,进而分析对电子产品的影响,以提高电子产品抗御这种非稳态振动的能力,应作为我们今后开展环境试验设备和环境试验技术研究的任务之一。
    与其他方法相比,这种方法避免了过试验的倾向。这是因为该方法能比较真实地重现产品实际所经受到的响应,对由于采用太保守的试验方法(这是当前在制定和确定经典试验方法的环境试验条件时普遍存在的)而产生过应力或疲劳的可能性将大大减小。
    瞬态时间历程的描述
    典型瞬态振动时间历程的波形如图6-49所示。

          
    对运载工具进行过现场振动实测的科技人员都知道,在实测到的时间历程信号中,往往有一定比例的类似上述波形的时间历程信号。由于技术上的种种困难,目前对现场振动实测信号的处理仅限于平稳随机振动,这类信号在随机信号的平稳性检验中都是被剔除的。然而在实际环境中是存在的,例如,火箭发射、歼击机做各种特技(战斗)动作和挖掘机采石等过程中都会出现如图6-49所示的振动时间历程。

上一篇:对试验设备的要求

上一篇:试验条件

相关IC型号
W25Q80AVAIZ
暂无最新型号

热门点击

 

推荐技术资料

单片机版光立方的制作
    N视频: http://v.youku.comN_sh... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!