带有边界扫描功能的器件

发布时间:2012/10/13 19:54:30 访问次数:797

    带有边界扫描功UC1875LP883WIP能的器件，在使用时通常IC外部只要增加5个引脚，即
    ●TCK:测试时钟（独立于lC主时钟），又称为扫描时钟引脚；
    ●TMS:测试模式选择；
    ●TDI:数字串行移入端；
    ●TDO:数字串行移出端；
    ●TRST:复位端。
    这5个引脚构成5个测试点，利用5个引脚就可以进行整个边界扫描，器件引脚的开路／短路能方便地测试出，同时也实现了器件本身内部功能逻辑测试。
    测试时只要向BS器件发送自测试的启动命令和最后接收到的go/no go报告，以及有关内部诊断信息就可以方便地知道BS器件的芯片质量和焊接效果。有时当带有BS器件与非边界扫描器件混装酌组件板也可以用周边BS器件的I/O引脚作为自动测试设备(AutomatedTest Equipment，ATE)的虚拟通道来检测与之相关的非边界扫描器件。总之，BS器件的问世既提高了器件本身的可测试性，又降低了对IC-ATE的要求。
    边界扫描技术以其虚拟的接触解决了高密度、细间距引脚难以测试的问题，复杂的VLSI、ASIC器件引脚故障测试也变得简单易行，它可以完全不考虑器件的内部逻辑。尽管边界扫描单元增加了器件的费用，但由于器件的可测性提高，使用合格率大大提高，受到用户的欢迎。与此同时，相应的ATE无论是IC-ATE还是PCB-ATE都具备了检测BS器件相应的软硬件能力。世界上著名的测试仪制造厂商，如HP公司、GerRad公司和Teradyne公司推出的ICT均带有能测试多种BS器件功能，如Teradyne公司产品21800系列Spectrum8800系列测试仪所配备的BS测试软件VICTORY是较早完成并用于实际的系统。

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相关IC型号: UC1875LP883WIP; UC1802J; UC1823AJ; UC1823AL; UC1823J; UC1825AJ; UC1825AJ/883B; UC1825BJ; UC1825J; UC1825J/883; uc1825J/883BC

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