进行长时间、大量样品 SGM2017-1.8XN5/TR的寿命试验的目的，在于估计电子元器件在正常的（即为额定的或实际使用的）试验条件下的可靠寿命特征，暴露非早期性失效模式及其失效机理。
    不同的电子元器件，其寿命分布规律是不同的，有些产品的寿命服从指数分布，有些服从威布尔分布，有些服从对数正态分布。由于指数分布是产品可靠性特征量表达式最简单的一种，因此，在讨论寿命试验时，常常只重点讨论寿命服从指数分布的情况。另外，如果任何设计合理，工艺成熟，材料质量得到保证，生产过程处于受控的产品都具有较高的可靠性，这类产品经过合理的工艺筛选剔除早期失效产品后，便进入偶然失效期。在这个期间内，产品的寿命分布接近指数分布，即失效率A(t)接近于常数。
    由于进行寿命试验需要很长的时间或较多样品，对寿命比较长的电子元器件就不太合适，解决这个问题的方法就是进行加速寿命试验，并通过数理统计和外推方法获得产品的失效分布、可靠度、平均寿命及特性参数随时间变化等有效的可靠性寿命特征数据。在这个基础上，再对在特定条件下的产品可靠性进行预浏，以此评价产品是否达到了可靠性设计时的预定要求。