UBA3.1CLCR测试仪的基本原理,不同厂家生产的LCR测试仪,测试原理基本相同。比如,测量电阻的阻值,一般是检测流过电阻的电流而换算出相应的阻值;而电感和电容,是分别与已知的电容和电感组成的谐振电路,然后再根据谐振频率计算得出。不同的仪表,只是在测试频率的高低、测试精度的大小等方面有差别。

LCR测试仪的测量电路方式有串连方式、并连方式和交叉方式三种。串连测量方式主要用于电阻和电容测量;并连测量方式主要用于电感测量;交叉方式主要通过操作仪表按钮实现电阻和电容使用并连测量方式,电感使用串连测量方式。

如图4-21所示为Mode1 878 LCR表前面板。

电源键,控制仪表ON和OFF,数据保持和进入MAX、MIN、AVG读数及连接内存,选择消耗系数⑿)或品质因数(g)，选择实验频,当数值显示时按压此键,同时配合其他方式可以将显示数值变为零，选择误差1%、5%和10,选择测量电感、电容和电阻,方式选择人工/自动量程方式,人工方式转换量程,连接标准的实验引线、最好使用配公的短的测量引线连按标准的实验引线,最好使用配套的短的测景引线,Mode1 878 LCR表前面板,LCR测试仪的使用,自动量程方式.

自动量程方式执行自动程序,可以迅速地指示被测元器件的大概参数,但没有人工量程方式测量出的数值精确。

将被测元件的引线插入仪表的测量插座,选择实验频率1kHz或120Hz(按压1kHz/120Hz按键),仪表自动选择在最合适的自动量程方式测量。在主LCD上渎出测量数值,在辅助LCD上读出电感的Q参数和电容的D参数。

BJT结构上的特点是:基区很薄(微米数量级),而且掺杂浓度很低;发射区和集电区是同类型的杂质半导体,但前者比后者掺杂浓度高很多,而集电区的面积比发射区面积大,因此它们不是电对称的。三个杂质半导体区域之间形成两个PN结,发射区与基区间的PN结称为发射结,集电区与基区间的PN结称为集电结。c、d分别是NPN型和PNP型BJT的符号,其中发射极上的箭头表示发射结加正偏电压时,发射极电流的实际方向。

这与每个PN结的正偏或反偏有关。当BJT用作放大器件时,无论是NPN型还是PNP型,都应将它们的发射结加正向偏置电压,集电结加反向偏置电压。下面以NPN管为例,分析在偏置电压作用下BJT内部载流子的传输过程。其结论对PNP管同样适用,只是两者偏压的极性、电流的方向相反。需要说明的是,BJT有三个电极,在放大电路中可有三种连接方式,共基极、共发射极(简称共射极)和共集电极,即分别把基极、发射极、集电极作为输入和输出端口的共同端。无论是哪种连接方式,要使BJT有放大作用,都必须保证发射结正偏、集电结反偏,而其内部载流子的传输过程相同。