位置:51电子网 » 技术资料 » IC/元器件

​高速数字网络的边界扫描标准

发布时间:2019/6/19 20:29:29 访问次数:1038

   高速数字网络的边界扫描标准

   为提高电路板上混合系统中差分互连与交流耦合的测试能力,IEEE计算机协会的测试技术标准委员会公布了最新的IEEE1149.6-2003。该标准支持鲁棒性的板级边界扫描测试,在信号通路中允许使用差分信号与交流耦合技术。 EN25T80-75HCP该技术利用并且兼容现有的1149,1。11⒆.6标准可以像11匆,1标准那样测试数字网络,还能与1149.4标准衔接起来测试模拟网络,并且它还弥补了11翎.4标准只能串行测试模拟网络的不足,提出了一种并行测试高级数字网络的新结构,同时1149.6标准还定义了扩展BsDL语言来支持新的yo测试结构。


    标准测试接口语言标准

   IC生产商与自动测试设各制造商的工业联合体为了解决大量数字测试数据的装入问题,1999年一起开发了标准ⅡEE1450数字测试矢量的标准测试接口语言(sTIL)。IEEE1450标准共包括五个子标准:半导体设计环境标准P1450,1、直流电平的技术性能标准P1450.2、测试仪的测试对象标准P14503、测试流规范标准P1450.4和半导体测试标准

P1450.5。




相关IC型号
EN25T80-75HCP
暂无最新型号

热门点击

推荐技术资料

单片机版光立
>http://v.youku.comN_showid_XNDlwMzM5NjE2.html... [详细]