镀层厚度是影响镀层质量的关键性指标之一,目前对元器件涂覆层厚度测量可分为有损测量和无损测量。M0515GS2-G有损测量主要包括阳极溶解库仑法、光学法(包括覆层断面显微镜测量、干涉法光学装置测量、偏振光学法装置测量、扫描电镜测量)、化学溶解法(包括点滴法、液流法、称重法)。无损测量分为磁法、涡流法、射线法、光学法(包括光切法、光电法、双光束干涉法等)、电容法、微波法、超声法。阳极溶解库仑法、X射线荧光法及制样镜检后的横断面显微镜法应用最为普遍,其他方法则视具体条件和要求而加以选用。

   库仑法测厚是对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解,通过阳极溶解镀层达到材料基体时的电位变化来进行镀层厚度的测量。库仑法测厚将被测金属镀层作为阳极,并置于电解液中进行电解,所溶解的金属量与通过的电流和溶解时间的乘积成比例,即与消耗的电量成比例。样镜检后的横断面显微镜法是先将样品固封,再根据要观察的横断面对器件进行研磨,经过粗磨、细磨、抛光后在显微镜或电镜下测量器件的镀层厚度。对器件镀层厚度测量多使用X射线荧光测厚法,这种方法的测量速度快、准确度高,而且不受零件形状和尺寸的限制。X射线荧光镀层测厚仪就是为适应上述要求而发展的非破坏性的、非接触式的镀层厚度测量仪器。X射线荧光镀层测厚法涉及的标准主要是s讫0129-呢金属涂覆层厚度测量方法。下面主要介绍X射线荧光测厚法.