纳米探针的种类按照使用平合来分可以分为基于原子力显微镜(AFM)的原子力探针显微镜和基于扫描电子显微镜(SEM)的扫描电子探针显微镜。TC4S66F

   原子力显微镜是用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感组件之间的极微弱的原子问相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将对微弱力极端敏感的微悬臂的一端同定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用・作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化・就可获得作丹j力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描仪件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、千涉法等光学方法检测,当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时,检测该斥力可获得表面原子级分辨图像,一般情况下分辨率也在纳米级水平。