通常采用的功能测试技术有以下两种
发布时间:2016/9/23 23:18:15 访问次数:953
通常采用的功能测试技术有以下两种。
1.特征分析(SA)测试技术
SA测试技术是一种动态数字测试技术,SA测试必须采用针床夹具,在进行功能测试时,H5PS5162FFR-S5C测试仪通常通过边界连接器(Edge Collncctor)同被测组件实现电气连接,然后从输入端口输入信号,并监测输出端信号的幅值、频率、波形和时序。功能测试仪通常有一个探针,当某个输出连接口上信号不正常时,就可以通过这个探针同组件上特定l×域的电路进行电气接触,来进一步找出缺陷。
2.复合测试仪
复合测试仪是把在线测试和功能测试集成到一个系统的仪器,是近年来广泛采用的测试设备(ArE),它能包括或部分包括边界扫描功能软件和非矢量测试相关软件。特别能适应高密度封装以及含有各种复杂IC芯片组件板的测试。对于引脚级的故障检测可达到100%的覆盖率,有的复合测试仪还具有实时的数据收集和分析件以监视整个组件的生产过程,在出现问题时能及时反馈以改进装配工艺,使生产的质量和效率能在控制范围之内保证生产的正常进行。
通常采用的功能测试技术有以下两种。
1.特征分析(SA)测试技术
SA测试技术是一种动态数字测试技术,SA测试必须采用针床夹具,在进行功能测试时,H5PS5162FFR-S5C测试仪通常通过边界连接器(Edge Collncctor)同被测组件实现电气连接,然后从输入端口输入信号,并监测输出端信号的幅值、频率、波形和时序。功能测试仪通常有一个探针,当某个输出连接口上信号不正常时,就可以通过这个探针同组件上特定l×域的电路进行电气接触,来进一步找出缺陷。
2.复合测试仪
复合测试仪是把在线测试和功能测试集成到一个系统的仪器,是近年来广泛采用的测试设备(ArE),它能包括或部分包括边界扫描功能软件和非矢量测试相关软件。特别能适应高密度封装以及含有各种复杂IC芯片组件板的测试。对于引脚级的故障检测可达到100%的覆盖率,有的复合测试仪还具有实时的数据收集和分析件以监视整个组件的生产过程,在出现问题时能及时反馈以改进装配工艺,使生产的质量和效率能在控制范围之内保证生产的正常进行。