对已存在电迁移损伤空洞的金属线,用如下的试验方式验证了纯交流应力对金属条电迁移可靠性的影响。先用直流信号作用于金属线样品, IXFM20N60从而有意识地引入一些空洞,然后监测金属线电阻的变化。在电阻值的变化达到一定程度后(例如有5%的电阻增加值,这相当于在金属线中存在有效的空洞),将直流信号转换成交流信号,同时监测电阻随时间的变化。试验发现,在电流密度不是太大、不至于产生明显焦耳热的情况下,即使在金属线条上存在空洞,交流应力也不会损伤金属线,即纯交流应力没有明显影响金属线的电迁移可靠性。

    一般交流应力条件下的电迁移。在实际的电路中,电流信号通常不是纯交流波形,而是普通的交流波形,既有直流信号又有交流信号,金属化电迁移的失效 时间由电流的直流分量决定。当该交流波形是脉冲形式时,金属化电迁移的失效时间与脉宽调制比有关,也与脉冲频率有关。设脉宽调制比是D,则当脉冲频率较低时,交流应力条件下的失效时间约是直流应力条件下电迁移失效时间的1/D;当脉冲频率较高时,交流电迁移失效时间是直流应力作用下电迁移失效时间的1/D2。