- 热电子的来源一般分为衬底热电子和沟道热电子两类2015/6/23 19:07:45 2015/6/23 19:07:45
- 热载流子主要为热电子，AD8206YRZ所以N沟道MOS器件的热载流子效应比P沟道的要明显。文献报道：对深亚微米器件，有效沟道长度缩短到0.15ym，VDS降至1.8V时仍发生热载流子效应，此时...[全文]
- 热载流子效应对器件性能的影响2015/6/23 19:06:41 2015/6/23 19:06:41
- 所谓热载流子是指其能量比费米能级大几个KT以上的载流子。这些载流子与晶格不处于热平衡状态，AD818AR当其能量达到或超过Si-Si0。界面势垒时(对电子注入为3.2eV，对空穴注入为4.5eV...[全文]
- 对电流增益hFE及噪声的影响2015/6/23 19:03:46 2015/6/23 19:03:46
- 可同时俘获（产生）电子一空穴对，超复合中心的作用。晶体管发射结附近表面的复合中心浓度，AD815ARB-24决定其表面的产生一复合电流，Qi．增加，必然要降低电流使得电流增益。当发...[全文]
- 对可靠性的影响2015/6/23 19:02:10 2015/6/23 19:02:10
- 氧化层中存在上述4种电荷，当这些电荷位置或密度变化时，调制了硅表面势，因此，AD815ARB凡是与表面势有关的各种电参数均受到影响。如对双极性器件，导敢电流增益和PN结反向漏电电流变化，击穿电压...[全文]
- 腐蚀与老化2015/6/22 19:59:17 2015/6/22 19:59:17
- 金属与周围媒质接触时，MAX4214EUK由于发生化学反应或电化学作用而引起的破坏叫金属腐蚀。金属腐蚀最突出的表现是金属在空气中被氧化。金属氧化的难易，决定于生成氧化物时的自由能变化。自由能减少...[全文]
- 分布拟合流程2015/6/20 15:01:47 2015/6/20 15:01:47
- 由于客观条件的限制，C001R32768000KMZ在现场调查或可靠性试验时，一般不可能进行百分之百的全数试验，往往是从整批产品中随机地抽取一部分样品来进行试验观察，从失效观测值来推断母体的寿命...[全文]
- 脉冲负荷筛选2015/6/20 14:58:48 2015/6/20 14:58:48
- 电阻器在脉冲负荷下工作时，CYT2506-LF若脉冲电压的幅值很高，宽度很小，而周期又较长，则在脉冲电压通过的瞬间，在电阻体上将产生较大的电位梯度和局部过热。虽然其平均功率不大，但对于那些存在膜...[全文]
- 失效模式与筛选试验方法的关系2015/6/20 14:54:23 2015/6/20 14:54:23
- 为了得到良好的筛选效果，必须了解电子元器件产品的失效模式和机理，CY7C65630-56LFXA以便选定一个有效的筛选方法，制定准确的筛选条件和失效判据。为此，必须对各种电子元器件进行大量的可靠...[全文]
- 应力一强度筛选2015/6/20 14:32:53 2015/6/20 14:32:53
- 这种筛选方法与上述方法的主要差别是，不仅要求得元器件的强度分布，CNY64EXI而且要得出环境应力分布。当应力超过元器件强度就应该被剔除。应力一强度筛选的目的是把强度测量值诋于预期应用中的应力水...[全文]
- 可靠性筛选试验的分类2015/6/19 22:14:08 2015/6/19 22:14:08
- 非破坏性筛选试验必须100%进行筛选；如果试验室是破坏性的，或者会产生蜕化现象，DLT1111则应根据批量大小进行抽样试验。最理想的方法是在不另加外应力的情况下，即在普通状态或工作应力状态下，进...[全文]
- 计数序贯抽样检验2015/6/19 22:11:06 2015/6/19 22:11:06
- 当产品不合格率为户，认为产品质量合格，以l-a高概率接收；当产品不合格品率为户。DL-7146-211D认为产品质量不合格，以1一卢高概率拒收。如果给定了P-、p2、d、卢，可以确定出接收、拒收...[全文]
- 抽样检验按抽样方式又分为一次抽样2015/6/19 22:00:26 2015/6/19 22:00:26
- 抽样检验按抽样方式又分为一次抽样（单式抽样）、二次抽样（复式抽样）、五次抽DL-3148-234A样（多重抽样）和序贯抽样。所谓一次抽样方案是指从批中只抽取一个样本（即批中随机抽取被检验样品的总...[全文]
- 寿命试验是可靠性试验中最重要2015/6/19 21:20:05 2015/6/19 21:20:05
- 寿命试验是可靠性试验中最重要、最基本的内容之一。它是将样品放在特走的试验条件下，DAC8550IBDGKRG4测量其失效（损耗）的数量随时间的分布情况。因为失效是按先后次序出现的，所以可利用次序...[全文]
- 环境试验旨在了解产品对环境条件的适应能力2015/6/19 21:18:51 2015/6/19 21:18:51
- 1．环境试验环境试验旨在了解产品对环境条件的适应能力，特别是工作在特殊环境或恶劣环境条件下。DAC8550IBDGKR环境条件对于产品内部所潜在的失效因素起着“加速和加剧”的作用，...[全文]
- 可靠性的工作内容2015/6/17 19:09:30 2015/6/17 19:09:30
- 可靠性作为一门工程科学，JANTX1N746A它有自己的体系、方法和技术，下面叙述可靠性工作的基本内容和特点。按制度和技术，可靠性可分为可靠性管理和可靠性工程，如图1.1所示。为了...[全文]
- 与可靠性关系非常密切的是关于使用期限的规定2015/6/17 19:03:39 2015/6/17 19:03:39
- 规定时间：与可靠性JANTX1N485B关系非常密切的是关于使用期限的规定，因为可靠度是一个有时间性的定义。对时间的要求一定要明确。时间可以是区间(0，￡)，也可以是区间(tl，t2)。有时对某...[全文]
- 产品的可靠性可用其可靠度来衡量2015/6/17 19:02:08 2015/6/17 19:02:08
- 产品的可靠性可用其可靠度来衡量，在上述J01341A0031可靠性的定义中，包含以下因素。·对象：可靠性问题的研究对象是产品，它是泛指的，可以是元件、组件、零件、部件、机器、设备，...[全文]
- 可靠性发展的阶段2015/6/17 18:57:04 2015/6/17 18:57:04
- 纵观世界和我国可靠性技术的发展史，J00000A0066可靠性技术大体可分为四个阶段。第一阶段：调查研究阶段，主要对电子产品可靠性问题的严重性、环境应力对失效机理的影响、可靠性总体...[全文]
- 加强元器件控制2015/6/17 18:49:33 2015/6/17 18:49:33
- 20世纪70年代可靠性步入成熟阶段，尽管美国JS28F320C3BD-90出现严重的经济萧条，可靠性工程作为减少寿命期费用的重要工具，仍然得到深入的发展，并日趋成熟。随着军用电子设备复杂性的迅速...[全文]
- 全集成多参数红外气体传感器一体化设计图2015/6/16 21:06:31 2015/6/16 21:06:31
- 在集成芯片制作工艺上，先使用假AT93C56-10SC片制作key-lock结构并进行键合，再使用光学检漏仪检测其真空度是否满足要求，根据检测结果不断完善键合工艺。晶圆级封装主要能够解决MEMS...[全文]
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