位置:51电子网 » 技术资料 » EDA/PLD

分布拟合流程

发布时间:2015/6/20 15:01:47 访问次数:591

   由于客观条件的限制,C001R32768000KMZ在现场调查或可靠性试验时,一般不可能进行百分之百的全数试验,往往是从整批产品中随机地抽取一部分样品来进行试验观察,从失效观测值来推断母体的寿命分布的统计特性。在统计学中把试验研究对象的全体称为母体,抽取部分的样品称为子样。

   可靠性试验数据的统计分析就在于如何根据子样的观测值来确定产品的寿命分布类型及其分布参数。关于参数分布确定前面有关章节已做了介绍。这里着重分析如何确定产品寿命(或失效)分布类型的拟合试验方法。

   最简单的方法是借助于图估法来对产品的寿命分布类型进行初步的判断,它将子样失效时间和累积失效概率在威布尔概率纸、正态概率纸或对数正态概率纸上描点,如果在概率纸上这些点能近似地排列在一条直线附近,就可以大致确定被试验样品的分布类型(属于排列成直线的那种概率纸的概率分布)。这种检验方式直观、简单,但其结果不够准确,而且也无法给出置信度,是一种不太严密的分析方法。

   当要在一定置信度下确定产品分布类型时,可以采用X2或K-S(柯尔莫哥洛夫一斯米尔诺夫)拟合检验方法。


   由于客观条件的限制,C001R32768000KMZ在现场调查或可靠性试验时,一般不可能进行百分之百的全数试验,往往是从整批产品中随机地抽取一部分样品来进行试验观察,从失效观测值来推断母体的寿命分布的统计特性。在统计学中把试验研究对象的全体称为母体,抽取部分的样品称为子样。

   可靠性试验数据的统计分析就在于如何根据子样的观测值来确定产品的寿命分布类型及其分布参数。关于参数分布确定前面有关章节已做了介绍。这里着重分析如何确定产品寿命(或失效)分布类型的拟合试验方法。

   最简单的方法是借助于图估法来对产品的寿命分布类型进行初步的判断,它将子样失效时间和累积失效概率在威布尔概率纸、正态概率纸或对数正态概率纸上描点,如果在概率纸上这些点能近似地排列在一条直线附近,就可以大致确定被试验样品的分布类型(属于排列成直线的那种概率纸的概率分布)。这种检验方式直观、简单,但其结果不够准确,而且也无法给出置信度,是一种不太严密的分析方法。

   当要在一定置信度下确定产品分布类型时,可以采用X2或K-S(柯尔莫哥洛夫一斯米尔诺夫)拟合检验方法。


相关技术资料
6-20分布拟合流程
相关IC型号
C001R32768000KMZ
暂无最新型号

热门点击

 

推荐技术资料

声道前级设计特点
    与通常的Hi-Fi前级不同,EP9307-CRZ这台分... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!