位置:51电子网 » 技术资料 » EDA/PLD

Im法辐射发射测量

发布时间:2014/4/27 20:17:31 访问次数:540

   测量环境

   如果能找到一种方法解决在18.1节中讨论过的无法控制的反射问题,辐射发FDD6635射测量应当作为预测量的一部分。

   为了解决这个问题,必须满足以下两个条件:

   (1)减小反射场的振幅。

   (2)使直接来自被测试产品的期望信号的振幅最大。

   使EUT尽可能远离任何金属反射面,可以使反射能量减到最小。所以需要找一些开阔的地方做试验。室内测试场地可能是不使用的会议室、休息室、自助餐厅或一些空旷的仓库。室外测试场地可以是一个空的停车场或开阔场地。如果可能,可以找一个场地,在那里任何大的金属物距EUT和天线至少3m远。因为室外测量可能遇到不利的天气条件,室内场地是首选的。

   为了使需要的信号最大,测量天线应当距产品Im远,而不是像在商业EMC测量中用的3m或lOm测量距离。如果所有的反射物都距天线和EUT 3m以外,则Im的测量距离一般可以使反射信号比期望信号低15dB或更多。

   一个非导体的转台也是必需的,用于旋转产品以确定最大发射。基本的测量配置如图18-22所示。

      



   测量环境

   如果能找到一种方法解决在18.1节中讨论过的无法控制的反射问题,辐射发FDD6635射测量应当作为预测量的一部分。

   为了解决这个问题,必须满足以下两个条件:

   (1)减小反射场的振幅。

   (2)使直接来自被测试产品的期望信号的振幅最大。

   使EUT尽可能远离任何金属反射面,可以使反射能量减到最小。所以需要找一些开阔的地方做试验。室内测试场地可能是不使用的会议室、休息室、自助餐厅或一些空旷的仓库。室外测试场地可以是一个空的停车场或开阔场地。如果可能,可以找一个场地,在那里任何大的金属物距EUT和天线至少3m远。因为室外测量可能遇到不利的天气条件,室内场地是首选的。

   为了使需要的信号最大,测量天线应当距产品Im远,而不是像在商业EMC测量中用的3m或lOm测量距离。如果所有的反射物都距天线和EUT 3m以外,则Im的测量距离一般可以使反射信号比期望信号低15dB或更多。

   一个非导体的转台也是必需的,用于旋转产品以确定最大发射。基本的测量配置如图18-22所示。

      



上一篇:应急部件表

上一篇:Im法测量限值

相关技术资料
4-27Im法辐射发射测量

热门点击

 

推荐技术资料

声道前级设计特点
    与通常的Hi-Fi前级不同,EP9307-CRZ这台分... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!