SPC的基本概念
发布时间:2012/5/7 19:28:01 访问次数:867
SPC的基本含义是：利用数理统计BL8530分析理论，对连续采集的多批工艺参数数据进行定量的统计分析，对工艺过程是否处于统计受控状态做出定量结论。当出现能力下降、工艺失控或有失控倾向时，立即发出警报，以便及时查找原因，采取纠正措施，使工艺过程一直处于统计受控状态。
目前SPC技术已在世界各国电子元器件生产中广泛应用，因为它可用来：
①保证工艺过程的统计受控状态。当检测出工艺中因存在异常原因而出现失控或失控倾向时，及时发出警报，以便采取措施，维持受控状态，保证产品的内在质量和可靠性。
②用于定量评定生产线、单道工序或单个工艺参数是否处于统计受控状态，因此特别适用于生产线的认证。
③代替部分筛选和可靠性试验。例如，新版美军标MIL-STD-883D规定，对S级复杂微电路，可以通过在键合工序中实施SPC代替100%非破坏性键合强度试验。
④已成为表征产品内在质量的重要依据之一。
工艺统计受控状态的含义
若工艺中只存在随机原因引起的起伏，不存在舁常原因，则称工艺处于统计受控状态。
工艺是否受控与工艺是否满足规范要求是完全不同的两个概念。工艺是否受控表示工艺运行的状态是否正常。而工艺规范是产品加工过程中对工艺结果的要求，工艺满足规范要求的程度用工序能力指数表示，两者之间不存在一一对应的关系。正常情况下，处于统计受控的工艺线生产的产品同时也满足工艺规范的要求。
目前SPC技术已在世界各国电子元器件生产中广泛应用，因为它可用来：
①保证工艺过程的统计受控状态。当检测出工艺中因存在异常原因而出现失控或失控倾向时，及时发出警报，以便采取措施，维持受控状态，保证产品的内在质量和可靠性。
②用于定量评定生产线、单道工序或单个工艺参数是否处于统计受控状态，因此特别适用于生产线的认证。
③代替部分筛选和可靠性试验。例如，新版美军标MIL-STD-883D规定，对S级复杂微电路，可以通过在键合工序中实施SPC代替100%非破坏性键合强度试验。
④已成为表征产品内在质量的重要依据之一。
工艺统计受控状态的含义
若工艺中只存在随机原因引起的起伏，不存在舁常原因，则称工艺处于统计受控状态。
工艺是否受控与工艺是否满足规范要求是完全不同的两个概念。工艺是否受控表示工艺运行的状态是否正常。而工艺规范是产品加工过程中对工艺结果的要求，工艺满足规范要求的程度用工序能力指数表示，两者之间不存在一一对应的关系。正常情况下，处于统计受控的工艺线生产的产品同时也满足工艺规范的要求。
SPC的基本含义是：利用数理统计BL8530分析理论，对连续采集的多批工艺参数数据进行定量的统计分析，对工艺过程是否处于统计受控状态做出定量结论。当出现能力下降、工艺失控或有失控倾向时，立即发出警报，以便及时查找原因，采取纠正措施，使工艺过程一直处于统计受控状态。
目前SPC技术已在世界各国电子元器件生产中广泛应用，因为它可用来：
①保证工艺过程的统计受控状态。当检测出工艺中因存在异常原因而出现失控或失控倾向时，及时发出警报，以便采取措施，维持受控状态，保证产品的内在质量和可靠性。
②用于定量评定生产线、单道工序或单个工艺参数是否处于统计受控状态，因此特别适用于生产线的认证。
③代替部分筛选和可靠性试验。例如，新版美军标MIL-STD-883D规定，对S级复杂微电路，可以通过在键合工序中实施SPC代替100%非破坏性键合强度试验。
④已成为表征产品内在质量的重要依据之一。
工艺统计受控状态的含义
若工艺中只存在随机原因引起的起伏，不存在舁常原因，则称工艺处于统计受控状态。
工艺是否受控与工艺是否满足规范要求是完全不同的两个概念。工艺是否受控表示工艺运行的状态是否正常。而工艺规范是产品加工过程中对工艺结果的要求，工艺满足规范要求的程度用工序能力指数表示，两者之间不存在一一对应的关系。正常情况下，处于统计受控的工艺线生产的产品同时也满足工艺规范的要求。
目前SPC技术已在世界各国电子元器件生产中广泛应用，因为它可用来：
①保证工艺过程的统计受控状态。当检测出工艺中因存在异常原因而出现失控或失控倾向时，及时发出警报，以便采取措施，维持受控状态，保证产品的内在质量和可靠性。
②用于定量评定生产线、单道工序或单个工艺参数是否处于统计受控状态，因此特别适用于生产线的认证。
③代替部分筛选和可靠性试验。例如，新版美军标MIL-STD-883D规定，对S级复杂微电路，可以通过在键合工序中实施SPC代替100%非破坏性键合强度试验。
④已成为表征产品内在质量的重要依据之一。
工艺统计受控状态的含义
若工艺中只存在随机原因引起的起伏，不存在舁常原因，则称工艺处于统计受控状态。
工艺是否受控与工艺是否满足规范要求是完全不同的两个概念。工艺是否受控表示工艺运行的状态是否正常。而工艺规范是产品加工过程中对工艺结果的要求，工艺满足规范要求的程度用工序能力指数表示，两者之间不存在一一对应的关系。正常情况下，处于统计受控的工艺线生产的产品同时也满足工艺规范的要求。
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