选择合适的控制图类型
发布时间:2012/5/7 19:29:34 访问次数:704
声表面波器件制造的工序多,流程长,应用SPC技术时,应将AQW414EH各工序中对最终产品质量和可靠性有重要影响的工序,确定为实施SPC技术的关键工序,并确定能定量表征关键工序特性和状态的关键工艺参数,通过对这些参数的SPC分析,可以确定该工序是否处于统计受控状态,并在出现失控或失控倾向时帮助查找原因。
工艺参数可以是原材料参数、设备参数、环境参数、工艺条件参数、工艺结果参数等,例如,声表面波器件键合工序中的硅铝丝质量的参数、键合台温度参数、空气洁净度参数、键合功率参数、键合强度检测结果等。
根据确定的关键工序和关键工艺参数特点,使用具有足够分辨率、能区分出工艺参数起伏波动的测量仪器或工具采集所需的工艺参数数据,并选择合适的控制图类型对所采集的数据进行分析,确定工艺过程是否处于统计受控。
SPC分析的核心技术是控制图。可按用途分为分析用控制图和控制用控制图两类。分析用控制图在准备实施SPC时,用来分析生产过程是否处于受控状态,这时使用控制图的特点是要根据采集的数据确定控制限;控制用控制图在确认工艺过程已稳定受控时,用来分析工艺过程是否维持统计受控状态,这时使用控制图的特点是只要将分析用控制图的控制线延长即可。
应用控制图的关键是根据工艺参数的分布特点,选用合适类型的控制图。如果控制图选用不当,可能导致对工艺过程是否受控的误判。因此,在设计采用控制图对工艺过程进行监控时,一定要清楚所监控的产品的工艺参数或质量特性分布特点。
工艺参数可以是原材料参数、设备参数、环境参数、工艺条件参数、工艺结果参数等,例如,声表面波器件键合工序中的硅铝丝质量的参数、键合台温度参数、空气洁净度参数、键合功率参数、键合强度检测结果等。
根据确定的关键工序和关键工艺参数特点,使用具有足够分辨率、能区分出工艺参数起伏波动的测量仪器或工具采集所需的工艺参数数据,并选择合适的控制图类型对所采集的数据进行分析,确定工艺过程是否处于统计受控。
SPC分析的核心技术是控制图。可按用途分为分析用控制图和控制用控制图两类。分析用控制图在准备实施SPC时,用来分析生产过程是否处于受控状态,这时使用控制图的特点是要根据采集的数据确定控制限;控制用控制图在确认工艺过程已稳定受控时,用来分析工艺过程是否维持统计受控状态,这时使用控制图的特点是只要将分析用控制图的控制线延长即可。
应用控制图的关键是根据工艺参数的分布特点,选用合适类型的控制图。如果控制图选用不当,可能导致对工艺过程是否受控的误判。因此,在设计采用控制图对工艺过程进行监控时,一定要清楚所监控的产品的工艺参数或质量特性分布特点。
声表面波器件制造的工序多,流程长,应用SPC技术时,应将AQW414EH各工序中对最终产品质量和可靠性有重要影响的工序,确定为实施SPC技术的关键工序,并确定能定量表征关键工序特性和状态的关键工艺参数,通过对这些参数的SPC分析,可以确定该工序是否处于统计受控状态,并在出现失控或失控倾向时帮助查找原因。
工艺参数可以是原材料参数、设备参数、环境参数、工艺条件参数、工艺结果参数等,例如,声表面波器件键合工序中的硅铝丝质量的参数、键合台温度参数、空气洁净度参数、键合功率参数、键合强度检测结果等。
根据确定的关键工序和关键工艺参数特点,使用具有足够分辨率、能区分出工艺参数起伏波动的测量仪器或工具采集所需的工艺参数数据,并选择合适的控制图类型对所采集的数据进行分析,确定工艺过程是否处于统计受控。
SPC分析的核心技术是控制图。可按用途分为分析用控制图和控制用控制图两类。分析用控制图在准备实施SPC时,用来分析生产过程是否处于受控状态,这时使用控制图的特点是要根据采集的数据确定控制限;控制用控制图在确认工艺过程已稳定受控时,用来分析工艺过程是否维持统计受控状态,这时使用控制图的特点是只要将分析用控制图的控制线延长即可。
应用控制图的关键是根据工艺参数的分布特点,选用合适类型的控制图。如果控制图选用不当,可能导致对工艺过程是否受控的误判。因此,在设计采用控制图对工艺过程进行监控时,一定要清楚所监控的产品的工艺参数或质量特性分布特点。
工艺参数可以是原材料参数、设备参数、环境参数、工艺条件参数、工艺结果参数等,例如,声表面波器件键合工序中的硅铝丝质量的参数、键合台温度参数、空气洁净度参数、键合功率参数、键合强度检测结果等。
根据确定的关键工序和关键工艺参数特点,使用具有足够分辨率、能区分出工艺参数起伏波动的测量仪器或工具采集所需的工艺参数数据,并选择合适的控制图类型对所采集的数据进行分析,确定工艺过程是否处于统计受控。
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