仪器灵敏度校准

   除用上述所示的灵敏度检测装置(STU)来定期评定PIND系统的性能外,还可以G1431F2U用以下方法进行仪器灵敏度校准:将事先放入硅铝丝引线作为模拟粒子的空体外壳耦合在振动台上,此时应有明显粒子的信号输出。将另一只同样尺寸但其内部没有任何粒子的标准容器重复上述试验,此时示波器上应显示出一条水平直线(除了背景噪声外无粒子噪声信号),若此时发现有尖峰信号,应找出具体原因,并设法排除。

   试验程序及方法

   (l)将试验样品(微电路等有内腔的密封件)的最平滑、最大的一面用声耦合剂黏合在振动台上。

   (2)设置试验程序。

   ①先施以峰值加速度为(98O0±196ω ll△/′,一般选100比,延续时间不大于100Its的 冲击脉冲,冲击3次。

   ②再施以频率为ω~130Hz,这里频率的选择与器件的内腔高度有关,如表⒋12所示。峰值加速度为196111s2或98Ws2的振动,振动时问3s±ls,上述程序循环4次,再对试验程序进行全面的检查,需连续按下“DSP”按钮。

   (3)试验判据:在监测中,若由检测设备指示出除背景噪声之外的任何噪声爆发(由冲击本身引起的除外),都应导致器件拒收。

   除另有规定外,批接收试验中用于筛选的检验批(或子批)检查,应按条件A的要求进行最多5次的100%PIND试验。不应进行PIND预筛选e在进行的5次试验中,只要有一次试验的失效器件数少于1%,则认为该批器件通过了试验。在每次试验后剔除失效的器件,若第5次试验时,失效器件数仍不小于l%或5次累计失效数超过25%,则该批器件应被拒收,并且不允许对其重新进行试验。