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  为了研究电子元器件的可靠性，就要掌握元器件失效的客观规律，分析产品的失效原因，以便进一步提高元器件的可靠性。

   虽然每个电子元器件的失效是个随机事件，并且是偶然发生的，但大量元器件的失效却呈现出一定的规律性。从产品的寿命特征来分析，大量使用和试验结果表明，电子元器件失效率曲线的特征是两端高，中间低，呈浴盆状，习惯称为“浴盆曲线”，其形状如早期失效期的失效率分布函数与m<l的威布尔(Weibull)分布函数所描述的曲线相同。

    偶然失效期出现在早期失效期之后，是产品的正常工作期，其特点是失效率比早期失 效率小得多，且产品稳定。失效率几乎与时间无关，可近似为一常数。通常所指的使用寿 命就是这一时期，这个时期的失效由偶然不确定因素引起，失效发生的时间也是随机的， 故称为偶然失效期。 偶然失效期产品的失效规律符合指数分布规律。

  从曲线上可以看出，电子元器件的失效率随时间的发展变化大致可以分为三个阶段：即早期失效期、偶然失效期、耗损（磨损）失效期。在不同时期产品呈现不同的失效规律，尽管给电子元器件施加的应力没有变。

   早期失效期出现在产品开始工作的初期，其特点是失效率高，可靠性低，且产品随着试验时间或工作时间的增加失效率迅速下降。产品发生早期失效的原因主要是设计、制造工艺上的缺陷或者元件、材料、结构上的缺陷所致（例如，元器件所使用的材料纯度达不到要求，或制造中混入杂质、产生的缺陷和工艺控制不严格等）。早期失效的元器件或材料一般可以通过加强对原材料和工艺的检验，或通过可靠性筛选等办法来加以淘汰。但最根本的办法是找出导致早期失效的原因，采取相应措施加以消除，从而使失效率降低且产品稳定。