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    耗损失效期出现在产品的后期，其特点刚好与早期失效期相反。失效率随试验或工作时间增加而迅速上升，出现大批失效。耗损失效是由于产品长期使用而产生的损耗、磨损、老化、疲劳等原因所引起的。它是构成元器件本身的材料长期化学、物理不可逆变化所造成的，是产品寿命的“终了”。

   威布尔分布是可靠性分布中最常用、最复杂的一种分布，其分布函数是由瑞典科学家威布尔从材料强度的统计理论推导出来的一种失效分布函数。这种函数的物理模型是由咒个环组成的链，当在链的两端施加拉力￡时，环的最低强度是y，求解链拉断的概率而推导出来的一种失效分布。

    均为与时间无关的参数，分别称为形状参数、位置参数和尺度参数。由于威布尔分布函数是由具体物理模型抽象出来的数学表达式，因而这三个参数必然有其明确的几何意义和物理意义。

   形状参数m是这三个参数中最重要的一个参数，为了说明其几何意义，将描绘出上述函数图形，分别得到图2.5a、b和c，一O的情况下，m取值不同时，威布尔分布的可靠性函数曲线。从图2.5中可以看出，m值的大小不同，曲线的形状就不同，因此，m值决定了威布尔分布函数曲线的形状，故称为形状参数。从物理本质上看，曲线的不同形状反映出失效分布类型不同，对应于不同的失效物理机制。因此，可以根据m值来确定和判断电子产品的失效类型，受形状参数影响最显著的是失效密度函数曲线，按m<1、m一1、m>1分成三种失效类型。当m>1时，m值越大，曲线峰值越高、越尖锐耗损失效期的失效概率分布函数与m>l的威布尔函数所描述的曲线相同。

    但是，对于实际电子产品并不一定都出现上述三个阶段。例如，工艺质量且控制很妤 的金属膜电阻有时就不出现早期失效期，又如某些半导体器件就没有发生耗损失效期。至于个别产品由于设计、生产工艺不合理，只有早期失效期和耗损失效期，这是由于产品质 量过于低劣，此种产品不能正常使用。从上述“浴盆曲线”也可看出，在成批产品中，有些 产品的失效率曲线是递增型、递减型和常数型，而宏观表现出来的是由三种类型的失效率 曲线叠加而成。