电阻器在电子设备中使用的数量很大，FBMH2012HM331-T而且是发热元件，因而由电阻器失效导致电子设备故障的比率也相图5.4非线绕电阻器各影响因素随时间的变化当高，据统计约占15%。电阻器的失效模式和原因与其产品的结构、工艺特点、使用条件等有密切关系。根据现场使用失效情况统计，电阻器各种失效模式的分布情况见表5.1。

   显然，非线绕电阻器和电位器的主要失效模式为开路、阻值漂移、引线机械损伤、接触损坏；而线绕电阻器和电值器的主要失效模式为开路、引线机械损伤和接触损坏。

   电阻器失效机理视电阻器的类型不同而不同，主要有以下类型。

   1)碳膜电阻器：引线断裂、基体缺陷、膜层均匀性差、膜层刻槽缺陷、膜材料与引线端接触不良、膜与基体污染等。

   2)金属膜电阻器：电阻膜不均匀、电阻膜破裂、基体破裂、电阻膜分解、银迁移、电阻膜氧化物还原、静电荷作用、引线断裂、电晕放电等。

   3)线绕电阻器：绕组断线、电流腐蚀、引线接合不牢、线材绝缘不好、焊点熔解等。

   4)可变电阻器：接触不良、焊接不良、接触簧片破裂或引线脱落、杂质污染、环氧胶接不好、轴倾斜等。