显然，上式表C0402C102K3RACTU示观测失效频数与理论频数之差的平方除以理论频数，将所得的商相加，则得Z‘的统计量。从概率统计可以证明：理论统计学Z2是服从以K-l为自由度的Z2分布。因此，可根据（l-a）置信度和（K-l）=f自由度，查；（2分布的下侧分位数表，可得Xf=K-l，．一。的理论统计量。

   将试验观测值按上式计算得到的xi+统计量与理论统计量判别标准Xf =K-，,l-a进行比较，如果则分布假设不正确。必须重新进行假设，再按上述方法进行检测。

   囝鹰m某电子产品原来服从平均寿命卢为170小时，标准偏差盯为110小时的正态分布。现从某批产品中随机地抽取60只进行高温寿命试验，得到表3. 17所示的统计结果，试判断该批产品的实测数据检验是否服从N (170，1102)的正态分布。区间序号    区间端点值（小时）    失效观测频数（只）

   解：因为正态分布函数F(f)一垂t-tLt，那么在i～i+1区间的频率可由公式P：一西（垫专二笆）一西（生手笆）讦算出理论概率，得如下结果：