寿命试验是指评价分析产品寿命特征量的试验，它是在实验室里，模拟实际工作状态或储存状态，C0402C102M5RAC7867投入一定数量的样品进行试验，记录样品数量、试验条件、失效个数、失效时间等，进行统计分析，从而评估产品的失效分布和各项可靠性指标。对于电子元器件的寿命试验，现在采用较多的还是属于破坏性的寿命试验。

   在确定和了解电子元器件及材料可靠性指标的试验中，一般都在可靠性筛选和例行试验合格的产品中抽样进行。对于许多产品，可以认为早期失效产品已经剔除，其寿命分布已进入偶然失效期，并且基本上属于指数分布。即使有些产品不服以指数布，例如，服从威布尔分布，但其形状参数m接近于1，可以用指数分布来近似。因此，研究符合指数分布情况的寿命试验具有普遍意义。

   由于一般电子元器件及材料的可靠性都很高，要使产品全部失效所需时间很长。另外，可靠性是统计概念，只要有一定的失效数据就可以用统计方法确定出可靠性指标。也就是说，不必知道全部产品的失效数据。因此，在可靠性寿命试验中都采用截尾试验，按结束试验方式可分为定数截尾试验和定时截尾试验两种。

   所谓定数截尾试验，就是指试验进行到规定的失效数（或失效次数）后，停止其试验。

   所谓定时截尾试验，就是指试验进行到规定的试验时间停止试验。

   在定数截尾和定时截尾试验中，又可以采用有替换和无替换两种方式，即在试验中每现一个产品失效后，用同样的好产品替换或不替换两种方式。对于电子元器件常采用无替换方式，而电子设备或系统则采用有替换方式。