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工序检验(检测)

发布时间:2014/5/21 21:21:05 访问次数:578

   工序检验也称工序检测。SMT工序检验的内容包括印刷焊膏工序检验、贴装工序检骏、再流焊工序检验(焊后检验)和清洗工序检验。AD779KN工序检验是产品质量管理过程控制的重要手段,具有

以下作用:通过每道工序的质量检测,除了能够控制每道工序的质量外,还能有效控制和避免将前一道工序的缺陷带入下一道工序中;有利于检查缺陷的产生原因;能够避免焊后返修;有利于

提高SMT的组装质量和生产效率;有利于通过最终产品的可性。

   印刷焊膏工序检验

   为了保证SMT组装质量,必须严格控制印刷焊膏的质量。有窄间距时,必须全检;无窄间距时,可以定时检测(如每小时一次),或按照取样规则检测。取样规则见第8章表8-1。

   施加焊膏要求详见第8章8.1节。

   1.检验标准

   按照本企业标准或参照IPC或SJ/T10670-1995表面组装工艺通用技术要求等标准执行。

   不同的工艺,检验标准也略有不同。例如,需要焊后清洗的产品,焊膏覆盖焊盘的面积达到75%以上即为合格,因为焊后要清洗,印刷在焊盘以外的焊膏、焊后可能产生的锡球能够被清除掉;但是采用免清洗技术时,印刷在焊盘以外的焊膏、焊后可能产生的锡球会影响可靠性,因此免清洗工艺可通过缩小模板开口尺寸的方法,使焊膏全部位于焊盘上;无铅工艺中,由于无铅焊

膏浸润性差,尤其当PCB果用OSP(有机防护剂)时,没有被焊膏覆盖的焊盘,焊后可能发生露铜现象,影响焊点的长期可靠性,因此无铅工艺要求焊膏覆盖焊盘的面积达到100%(详见第8章8.1节及图8-1)。图16-2为焊膏印刷缺陷示意图。

   2.检验方法

   印刷焊膏检验方法有放大镜和显微镜目视检验。焊膏厚度测试仪检验、2D AOI、3D SPI。一般较大的开口重复精度好,对Chip元件采用2D检测就可以了,而对窄间距QFP、CSP、01005、POP等封装,应采用选择性3D SPI检测。详见第8章8.5节9.  (1)的内容。


   工序检验也称工序检测。SMT工序检验的内容包括印刷焊膏工序检验、贴装工序检骏、再流焊工序检验(焊后检验)和清洗工序检验。AD779KN工序检验是产品质量管理过程控制的重要手段,具有

以下作用:通过每道工序的质量检测,除了能够控制每道工序的质量外,还能有效控制和避免将前一道工序的缺陷带入下一道工序中;有利于检查缺陷的产生原因;能够避免焊后返修;有利于

提高SMT的组装质量和生产效率;有利于通过最终产品的可性。

   印刷焊膏工序检验

   为了保证SMT组装质量,必须严格控制印刷焊膏的质量。有窄间距时,必须全检;无窄间距时,可以定时检测(如每小时一次),或按照取样规则检测。取样规则见第8章表8-1。

   施加焊膏要求详见第8章8.1节。

   1.检验标准

   按照本企业标准或参照IPC或SJ/T10670-1995表面组装工艺通用技术要求等标准执行。

   不同的工艺,检验标准也略有不同。例如,需要焊后清洗的产品,焊膏覆盖焊盘的面积达到75%以上即为合格,因为焊后要清洗,印刷在焊盘以外的焊膏、焊后可能产生的锡球能够被清除掉;但是采用免清洗技术时,印刷在焊盘以外的焊膏、焊后可能产生的锡球会影响可靠性,因此免清洗工艺可通过缩小模板开口尺寸的方法,使焊膏全部位于焊盘上;无铅工艺中,由于无铅焊

膏浸润性差,尤其当PCB果用OSP(有机防护剂)时,没有被焊膏覆盖的焊盘,焊后可能发生露铜现象,影响焊点的长期可靠性,因此无铅工艺要求焊膏覆盖焊盘的面积达到100%(详见第8章8.1节及图8-1)。图16-2为焊膏印刷缺陷示意图。

   2.检验方法

   印刷焊膏检验方法有放大镜和显微镜目视检验。焊膏厚度测试仪检验、2D AOI、3D SPI。一般较大的开口重复精度好,对Chip元件采用2D检测就可以了,而对窄间距QFP、CSP、01005、POP等封装,应采用选择性3D SPI检测。详见第8章8.5节9.  (1)的内容。


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