控制辐射损伤失效的可靠性设计
发布时间:2012/5/6 15:34:48 访问次数:670
1.控制辐射损伤失效的可靠性设计
声表面波器件的抗辐射能力强，动态范PS2801-4围很大(可达lOOdB)。这是因为它利用的是晶体表面的弹性波。
航天环境和核环境工作的声表面波器件会受到能量很大的质子、中子、电子和丫射线的照射。这些粒子辐照有可能会使声表面波器件发生结构微损伤引起器件失效。对高可靠性应用要求的声表面波器件，在内部结构设计中可考虑采用：
①抗辐射材料，目的是减少辐照下微损伤。
②减少易产生或积存电荷的结构。在外部结构方面，主要是采用阻挡辐照粒子的结构设计，例如加大封装厚度、选择强阻挡能力的封装材料。
2.三防设计
防潮湿、盐雾、霉菌的设计（三防设计）是声表面波器件可靠性设计中的一项重要内容。
由潮湿、盐雾、霉菌引起的失效模式有两类。一类是发生化学变化如腐蚀、锈蚀使结构损坏；另一类是引起的物理变化，如使电极间的电导增加而使电性能超差等。声表面波器件的三防设计内容是钋壳表面金属的化学稳定性、涂覆层的物理化学稳定性和疏水性灭菌性能以及声表面波器件的内部水汽含量和密封结构设计。
3.抗低气压的可靠性设计
声表面波器件与低气压有关的失效模式是在低气压下器件外壳发生几何变形引起失效。通过外壳结构设计，保证器件有足够的强度控制这一失效模式。
声表面波器件的抗辐射能力强，动态范PS2801-4围很大(可达lOOdB)。这是因为它利用的是晶体表面的弹性波。
航天环境和核环境工作的声表面波器件会受到能量很大的质子、中子、电子和丫射线的照射。这些粒子辐照有可能会使声表面波器件发生结构微损伤引起器件失效。对高可靠性应用要求的声表面波器件，在内部结构设计中可考虑采用：
①抗辐射材料，目的是减少辐照下微损伤。
②减少易产生或积存电荷的结构。在外部结构方面，主要是采用阻挡辐照粒子的结构设计，例如加大封装厚度、选择强阻挡能力的封装材料。
2.三防设计
防潮湿、盐雾、霉菌的设计（三防设计）是声表面波器件可靠性设计中的一项重要内容。
由潮湿、盐雾、霉菌引起的失效模式有两类。一类是发生化学变化如腐蚀、锈蚀使结构损坏；另一类是引起的物理变化，如使电极间的电导增加而使电性能超差等。声表面波器件的三防设计内容是钋壳表面金属的化学稳定性、涂覆层的物理化学稳定性和疏水性灭菌性能以及声表面波器件的内部水汽含量和密封结构设计。
3.抗低气压的可靠性设计
声表面波器件与低气压有关的失效模式是在低气压下器件外壳发生几何变形引起失效。通过外壳结构设计，保证器件有足够的强度控制这一失效模式。
1.控制辐射损伤失效的可靠性设计
声表面波器件的抗辐射能力强，动态范PS2801-4围很大(可达lOOdB)。这是因为它利用的是晶体表面的弹性波。
航天环境和核环境工作的声表面波器件会受到能量很大的质子、中子、电子和丫射线的照射。这些粒子辐照有可能会使声表面波器件发生结构微损伤引起器件失效。对高可靠性应用要求的声表面波器件，在内部结构设计中可考虑采用：
①抗辐射材料，目的是减少辐照下微损伤。
②减少易产生或积存电荷的结构。在外部结构方面，主要是采用阻挡辐照粒子的结构设计，例如加大封装厚度、选择强阻挡能力的封装材料。
2.三防设计
防潮湿、盐雾、霉菌的设计（三防设计）是声表面波器件可靠性设计中的一项重要内容。
由潮湿、盐雾、霉菌引起的失效模式有两类。一类是发生化学变化如腐蚀、锈蚀使结构损坏；另一类是引起的物理变化，如使电极间的电导增加而使电性能超差等。声表面波器件的三防设计内容是钋壳表面金属的化学稳定性、涂覆层的物理化学稳定性和疏水性灭菌性能以及声表面波器件的内部水汽含量和密封结构设计。
3.抗低气压的可靠性设计
声表面波器件与低气压有关的失效模式是在低气压下器件外壳发生几何变形引起失效。通过外壳结构设计，保证器件有足够的强度控制这一失效模式。
声表面波器件的抗辐射能力强，动态范PS2801-4围很大(可达lOOdB)。这是因为它利用的是晶体表面的弹性波。
航天环境和核环境工作的声表面波器件会受到能量很大的质子、中子、电子和丫射线的照射。这些粒子辐照有可能会使声表面波器件发生结构微损伤引起器件失效。对高可靠性应用要求的声表面波器件，在内部结构设计中可考虑采用：
①抗辐射材料，目的是减少辐照下微损伤。
②减少易产生或积存电荷的结构。在外部结构方面，主要是采用阻挡辐照粒子的结构设计，例如加大封装厚度、选择强阻挡能力的封装材料。
2.三防设计
防潮湿、盐雾、霉菌的设计（三防设计）是声表面波器件可靠性设计中的一项重要内容。
由潮湿、盐雾、霉菌引起的失效模式有两类。一类是发生化学变化如腐蚀、锈蚀使结构损坏；另一类是引起的物理变化，如使电极间的电导增加而使电性能超差等。声表面波器件的三防设计内容是钋壳表面金属的化学稳定性、涂覆层的物理化学稳定性和疏水性灭菌性能以及声表面波器件的内部水汽含量和密封结构设计。
3.抗低气压的可靠性设计
声表面波器件与低气压有关的失效模式是在低气压下器件外壳发生几何变形引起失效。通过外壳结构设计，保证器件有足够的强度控制这一失效模式。
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