从各研究机构研究的成果可以看出，环境温度和负载率对可靠性的影响很大，这两个方面对开关电源由于有很大的影响，所以下面将从这两个方面分析如何设计出高可靠的开关电源。其中，pd为使用功率；pr为额定功率。ud为使用电压；ur为额定电压。

　　1）环境温度对元器件的影响

　　表1～表3分别列出环境温度对半导体器件、电容器和电阻器可靠性的影响。表1和表13以pd/pr＝0.5使用负载设计，而表12则以ud/ur＝0.65使用负载设计。

　　表1 环境温度对半导体器件可靠性的影响

　　由表1可知，当环境温度ta从20℃增加到80℃时，半导体器件的失效率增大到30倍。

　　由表2可知，当环境温度ta从20°c增加到80°c时，电容器的失效率增大到14倍。

　　表2 环境温度对电容器可靠性的影响

　　从表3可知，当环境温度ta从20℃增加到80℃时，电阻器的失效率增大到4倍。

　　表3环境温度对电阻器可靠性的影晌

　　2）负载率对元器件的影响

　　表4和表5分别列出了负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响。

　　由表4可知，当pd/pr＝0.8时，半导体器件的失效率是pd/pr＝0.2时的1000倍。

　　表4 负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响（环境温度50°c）

　　从表5可知，当pd/pr＝0.8时，电阻器的失效率是pd/pr＝0.2时的8倍。

　　表5负载率对电阻器可靠性的影响

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