一、学习目的：

     使用orcad/pspice9直流扫描分析(dc sweep)的嵌套扫描(nested sweep)来验证晶体三极管的vce-ib 输出特性曲线。

    二、练习步骤：

    步骤一 绘出电路图

    1．请建立项目q并绘出如图示1的电路图,并存为q.opj。

    图1 测量npn型晶体管的vce-ib曲线的电路

    本电路需要使用的元件,如下所示:

    2、电压源vce和电流源idc的元件属性默认都为0，我们不去改动它。因为它只在偏压点分析（bins point detail）时有用，而本范例将直接使用直流扫描分析(dc sweep)的嵌套扫描(nested sweep)来求解 q2n2222的vce-ic特性曲线。

    步骤二 设置直流扫描分析和直流嵌套扫描的参数 1．晶体管特性曲线vce-ic的横轴为vce，纵轴为ic，而随着不同的值会各自有一条对应的曲线。也就是说， 有两个不同的输入变量在改变，而主扫描变量为vce，副扫描变量为ib。如果想要在同一张输出波形图上同 时显示这两种扫描的输出结果，使用直流扫描分析(dc sweep)的嵌套扫描(nested sweep)是最方便不过了。

    2、选择pspicenew simulation profile或单击工具栏上的按钮,打开new simulation对话框，在neme栏 中输入本仿真文件的名称dc，打开simulation setting-dc对话框。

    3、设置dc sweep仿真参数

    （1）设置主扫描参数 在options栏内勾选primary sweep 选项，然后如图2所示输入参数：

    图2 dc sweep(primary sweep)仿真参数

    （2）设置副扫描参数 在options栏内勾选secondary sweep选项，然后如图3所示输入参数：

    图3 dc sweep(secondary sweep)仿真参数

    （3）说明：

    ①我们已在设置主扫描变量为电压源vce，由0v开始线性扫描直到4v，每隔0.01v记录一点。副扫描量为电

    流源(current source)ib，sweep type栏：选linear线性扫描，star value:栏设为0，end value栏设 为0.5m，increment：设为0.1m，如此ib将在0ma、0.1ma、0.2ma、0.3ma、0.4ma和0.5ma时各扫描出一 条曲线。 ②副变量ib也可以用数值列表的方式(value list)设置。首先在sweep type栏选value list选项，然后直 接在右边的空白栏内输入0ma 0.1ma 0.2ma 0.3ma 0.4ma 0.5ma即可。

    步骤三 存档并执行pspice仿真

    1、用filesave功能选项或工具栏的钮或快捷键[ctrl+s]存档一次。

    2、执行pspicerun菜单命令或单击按钮，启动pspice程序执行仿。屏幕上自动打开probe窗口。

    步骤四 使用probe观察仿真结果

    1、在刚打开的probe窗口空图，除了x轴变量vce已经按照我们在dc sweep的设置设为0-4v之外，y轴变量则等待着我们的输入选择。

    2、现在选择traceadd trace...或快捷图钮或键盘上的[insrt]钮。打开如下图的add traces对话框，现 在请在add traces在对话框左simulation output variables栏内的“ic（q1）”处单击鼠标左键，现在 窗口下的trace expression栏处应该出项“ic（q1）”字样。用鼠标选“ok”钮退出add traces窗口。这 时的pspice窗口的输出波形区出项如图4所示五条曲线。由图可以看到三极管的输出特性曲线。

    一、学习目的：

     使用orcad/pspice9直流扫描分析(dc sweep)的嵌套扫描(nested sweep)来验证晶体三极管的vce-ib 输出特性曲线。

    二、练习步骤：

    步骤一 绘出电路图

    1．请建立项目q并绘出如图示1的电路图,并存为q.opj。

    图1 测量npn型晶体管的vce-ib曲线的电路

    本电路需要使用的元件,如下所示:

    2、电压源vce和电流源idc的元件属性默认都为0，我们不去改动它。因为它只在偏压点分析（bins point detail）时有用，而本范例将直接使用直流扫描分析(dc sweep)的嵌套扫描(nested sweep)来求解 q2n2222的vce-ic特性曲线。

    步骤二 设置直流扫描分析和直流嵌套扫描的参数 1．晶体管特性曲线vce-ic的横轴为vce，纵轴为ic，而随着不同的值会各自有一条对应的曲线。也就是说， 有两个不同的输入变量在改变，而主扫描变量为vce，副扫描变量为ib。如果想要在同一张输出波形图上同 时显示这两种扫描的输出结果，使用直流扫描分析(dc sweep)的嵌套扫描(nested sweep)是最方便不过了。

    2、选择pspicenew simulation profile或单击工具栏上的按钮,打开new simulation对话框，在neme栏 中输入本仿真文件的名称dc，打开simulation setting-dc对话框。

    3、设置dc sweep仿真参数

    （1）设置主扫描参数 在options栏内勾选primary sweep 选项，然后如图2所示输入参数：

    图2 dc sweep(primary sweep)仿真参数

    （2）设置副扫描参数 在options栏内勾选secondary sweep选项，然后如图3所示输入参数：

    图3 dc sweep(secondary sweep)仿真参数

    （3）说明：

    ①我们已在设置主扫描变量为电压源vce，由0v开始线性扫描直到4v，每隔0.01v记录一点。副扫描量为电

    流源(current source)ib，sweep type栏：选linear线性扫描，star value:栏设为0，end value栏设 为0.5m，increment：设为0.1m，如此ib将在0ma、0.1ma、0.2ma、0.3ma、0.4ma和0.5ma时各扫描出一 条曲线。 ②副变量ib也可以用数值列表的方式(value list)设置。首先在sweep type栏选value list选项，然后直 接在右边的空白栏内输入0ma 0.1ma 0.2ma 0.3ma 0.4ma 0.5ma即可。

    步骤三 存档并执行pspice仿真

    1、用filesave功能选项或工具栏的钮或快捷键[ctrl+s]存档一次。

    2、执行pspicerun菜单命令或单击按钮，启动pspice程序执行仿。屏幕上自动打开probe窗口。

    步骤四 使用probe观察仿真结果

    1、在刚打开的probe窗口空图，除了x轴变量vce已经按照我们在dc sweep的设置设为0-4v之外，y轴变量则等待着我们的输入选择。

    2、现在选择traceadd trace...或快捷图钮或键盘上的[insrt]钮。打开如下图的add traces对话框，现 在请在add traces在对话框左simulation output variables栏内的“ic（q1）”处单击鼠标左键，现在 窗口下的trace expression栏处应该出项“ic（q1）”字样。用鼠标选“ok”钮退出add traces窗口。这 时的pspice窗口的输出波形区出项如图4所示五条曲线。由图可以看到三极管的输出特性曲线。