LED照明的稳健性测试类似于JEDEC、IEC和其他组织发布的其他类型电子设备的测试，但针对LED产品的特殊特性进行了定制。给定产品的具体测试协议将取决于预期的应用，例如，室内办公产品的测试面板可能不需要包括高温操作或振动。

下表中列出的测试代表了推荐用于LED照明产品的一些更常见的稳健性测试。

测试样本量（典型）持续时间（典型）描述

高温操作30个（3个，共 10个）1000小时连续运行：

与允许的最大电流对应的温度

对应于允许的最高温度的驱动电流

低温操作30个（3个，共10个）1000小时在40°C（典型值）的环境温度和工作温度允许的最大驱动电流下连续运行.

电源循环操作30个（3个，共10个）1000小时在标称温度和驱动电流下开/关操作。由制造商确定的占空比.

非工作温度循环30个（3个，共10个）500次循环在T min=40°C和T max=85°C时，典型的浸泡时间和温度为15分钟

变频振动30个（3个，共10个）168小时由制造商确定的频率分布

高温/高湿30个（3个，共10个）1000小时在85°C 的典型环境温度和85%的典型RH下连续或循环运行

腐蚀30个（3个，共10个）168小时在标称温度和驱动电流下运行，75%RH（典型值）至盐雾

曝光（非工作）3个（3个，共1个）1000小时透镜和外壳材料暴露于近紫外辐射

灰尘208小时在标称温度和驱动电流下连续运行

Micro LED显示技术在亮度、光效、可靠性、响应时间、色彩饱和度等方面具有优势，应用范围覆盖AR、HUD、透明显示、柔性显示，可穿戴设备、高端显示屏等等。

目前Micro LED仍面临着来自技术和成本的双重挑战。据悉，业界仍需克服红光光效、激光转移、晶圆键合、全彩化、检测和修复等技术挑战。周名兵认为，硅衬底GaN技术可以极大提升Micro LED的制程良率。

对Micro LED而言，硅衬底GaN技术相对传统的蓝宝石衬底GaN技术拥有某些关键优势，包括大尺寸上的波长一致性、衬底无损去除、晶圆翘曲控制、CMOS键合良率等等。

来源：eechina.如涉版权请联系删除。图片供参考