泛光模式测试

   泛光模式测试包括噪声、响应率、噪声等效温差、噪声等效辐照功率、探测率、不均匀性和线性度。HA5351IB所有这些测试使用黑体,选定一个或一系列温度对探测器列阵进行泛光照射,采集响应黑体温度下每个像元的输出信号。噪声测试时,应借助温度为室温或接近室温的黑体,在恒定辐照下多次测试电压信号。噪声和响应率是用来计算探测率、噪声等效温差和噪声等效辐照功率等参数的基础,所以,噪声和响应率测量的准确性极为重要,其存在的测量误差将导致计算其他参数时出现误差。

   图10-30 红外焦平面测试系统框图

   不均匀性是焦平面受恒定、均匀的辐照时,各像元之间的输出信号变化,包括在固定背景下输出信号的差异,信号随辐射变化的输出信号的差异。通常采用黑体靠近探测器放置,红外辐射激发探测器列阵的输出信号作为统计量,以最大偏差或标准偏差表示。线性度的传统测量方法是通过来自一个面源黑体或点源黑体的泛光照射探测器列阵来实现的。器件的红外信号随黑体温度而变化,线性度是测试焦平面输出信号与红外辐射功率的关系,其线性度可由其离开拟合直线的偏差计算得到。这种方法简单,但精度不高。