1)信号不能直接读出

   在焦平面中,各像元的信号不能直接读出,必须经过多路传输,或CCD传输,再由读出电路读出。HA4450T-I/SS焦平面的光敏元一般处于“积分工作模式”,信号以“电荷包”形式注入传输区,再经过传输区到输出端,在输出端再将“信号电荷”转换成“信号电压”或“信号电流”读出。在这一系列过程中,都有一个效率问题。即“信号电荷”向传输区的“注入效率”,“信号电荷”在传输区的“传输效率”,最后,在读出电路中“信号电荷”转换成“信号电压或电流”的“转换率”。因此,在焦平面输出端测得的信号,与光敏元得原始信号是不相等的,必须计入“注入效率”“传输效率”及“转换率”等因子。所以,焦平面的测量要比单元探测器复杂得多。

   2)用统计方法表示参数

   由于焦平面的像元数成千上万,各像元的性能参数一般均不一致,因此,焦平面的性能参数只能用“平均值”“标准偏差”及直方图表示。由于数据量大,统计运算烦琐。

   3)需要片外非均匀校正

   由于像元光响应的非均匀性,在进行参数测量之前必须先进行片外非均匀性校正。校正后,才进行参数测量。由于焦平面的像元数成千上万,非均匀性校正的运算工作量十分大。