红外焦平面阵列测试与评价工程应用经验

   红外探测器已经由单元、多元发展到焦平面阵列(FPA),相关测试技术的研究工作也在不断更新。HA3-5320-5开始的单元、多元红外探测器测试系统以点源黑体为辐射源,采用给探测器施加偏流或偏压的方式,探测器输出通过前置放大器放大后进入采集卡,由计算机计算处理得到相关参数的测试结果。随后的红外焦平面阵列测试引入了面源黑体,在测试方法上进行了新一轮研究。由于红外焦平面阵列带有读出电路,能够使得探测器信号得到就近放大,器件性能有了大幅提高。随着测试需求的不断增加,测试系统也在升级换代,目前主流的焦平面阵列测试系统普遍集成了低噪声偏压、脉冲发生功能和实时成像功能,通用性强,可以对多种类型的焦平面探测器进行性能测试和评价。

   红外焦平面阵列拥有成千上万个像元,其信号读出电路和读出技术要比单元红外探测器复杂得多,所以测试评价技术比单元红外探测器困难得多。