红外光电及焦平面组件测试和试验标准讨论

   目前电子系统中主要是制冷型的红外光电焦平面组件,其测试和试验主要依据GJB”47―⒛1l《红外焦平面探测器制冷组件通用规范》进行。该通用规范规定了红外焦平面探测器制冷组件的通用要求、质量保证规定和交货准备。对红外焦平面制冷组件的鉴定检验和质量一致性检验做出了详细规定,包括对产品材料、零部件和设计结构的规范要求,对产品性能特性参数测试要求,对产品环境试验要求和可靠性试验要求。GS8120-174004DBOEZ

   《红外焦平面探测器制冷组件通用规范》是制冷型红外焦平面探测器制冷组件试验所遵循的通用规范,是制定产品详细规范的主要依据标准。该通用规范对产品的鉴定检验、首件检验和质量一致性检验程序和实施做出了说明。规定了检验过程中的环境条件:

   (a)温度:15℃~35℃;

   (b)相对湿度:⒛%~80%;

   (c) 86kPa'~106kPa。

   对试验设备和检验装置有如下规定:

   承制方应建立和维持具有足够准确度、质量和数量的试验设备、测量设备和检验装置,以便进行所要求的检验,其测试软件应经鉴定机构或使用方认可。同时,为控制测量和试验设备的准确度,承制方应按GJB2712―1996建立和维持其计量校准系统。

    GJB”47―⒛1l《红外焦平面探测器制冷组件通用规范》对制冷型红外焦平面组件性能测试、环境试验和可靠性试验都规定了具体的检验方法。性能测试检验主要依据GB/T44-2013《红外焦平面阵列参数测试方法》上的红外焦平面参数测试方法。环境试验主要依据GJB1788-93《红外探测器试验方法》,对红外焦平面产品高温储存、高温动态、低温储存、低温动态等环境试验方法进行了阐述和规定。