输出信号上升时间、输出信号下降时间的测试

  高速信号的上升时间和下降时间都在零点几ns,对测试系统和信号传输通路要求比较苛刻,消除传输通路的影响因素,保证测试精度是需要重点关注的。R5F211A4C22SP

   各种延迟时间、锁相环锁定时间的测试

   时间参数是动态参数,对应高速信号,这些时间参数的极限值都在1ns内。对应延迟时间的测试,测试通路的延时己经是不能忽视的问题,如何保证各个通路延时的一致性和可测性也是要解决的问题之一。

   抖动的测试

   高速信号的抖动要求在几十ps内,对测试设备和测试方案的要求都很高,在保证测试设备的情况下,如何在测试过程中避免干扰、不引入新的抖动也是需要认真研究的问题。LVDs芯片测试参数多、难度大,每个参数测试过程中的测试资源、测试要点都有不同。如何制订合理的测试策略,进行资源整合,提升测试效率是要面临的问题。根据测试策略进行测试程序开发,提高测试的自动化水平,缩短测试时间,实现工程化的应用是重点之一。