低压差分信号收发器 

   1.被测器件介绍R52216FNAR

   被测器件是一款LVDS驱动器,其数据速率达800Mbps,具备四路并行单端输入,并且对应有四路并行差分输出通道。

   2.测试需求分析

   1)测试适配板设计

   LVDs芯片本身就是高速传输芯片,LVDs信号都是高速信号,要测试高速LVDs芯片,必须能够产生、传输、测试高速LVDs信号。典型LVDs芯片的LVDs信号可达十几路,并且信号之间有时序要求,因此需要能够同时产生和测试多路高速信号的测试设备。高速测试板是高速LVDS信号在测试设各和待测LVDs芯片之间的传输途径,如何让高速LVDS信号在测试板上的传输质量保持稳定,何种布线策略、什么样的终端匹配方案才能让信号的失真减少到最小,这些都是测试板设计中所要关注的内容。

    2)测试参数种类

   特种高速LVDs芯片测试项目多、参数多。有功能性的测试、直流参数的测试、交流参数的测试等,主要的参数测试如下。

   (1)差分电压(%D)、差分电压变化(Δ/。D)、共模电压(/。s)、共模电压变化(Δ/。s)的测试

   这几个参数是关键的直流参数,是通过对不同状态下的两个差分端的测试值进行计算得出来的,其测试精度为mV级。如何在保持测试精度的条件下进行多路信号的实时计算,兼顾测试精度和效率是关键点。

   (2)输出信号上升时间、输出信号下降时间的测试高速信号的上升时间和下降时间都在零点几ns,对测试系统和信号传输通路要求比较苛刻,消除传输通路的影响因素,保证测试精度是需要重点关注的。