由于电子元器件的种类繁多,且没有统一的外观检查标准,本书仅针对器件和元件类产品的检查标准进行简单介绍。

   器件类产品外观检查参照标准一般为GJB548《微电子器件试验方法和程序》方法2OO9和GJB128《半导体分立器件试验方法》方法⒛71;试验后外观检查在相应试验方法中均有规定,如GJB548中方法2003(可焊性试验)、GDS1110BD方法2o15(耐溶剂性试验)等均对试验后的外观检查有明确的规定。元件类产品试验前外观检查参照标准为相应门类产品总规范和产品详细规范,如射频电连接器参考标准凼《射频同轴连接器通用规范》;试验后外观检查在相应试验标准均有规定,如GJB360方法2o8(可焊性试验)、方法215(耐溶剂试验)等均对试验后的外观检查有明确的规定。

   试验仪器

   元器件的外观检查一股按照下列方法之一进行(具体方法由产品详细规范规定):

    (1)用目视检查(在最有利的观察距离和适当的照明条件下,应有正常的视力和颜色分辨能力),该方法不需要试验设备。

   (2)用放大镜检查(放大倍数由详细规范规定),该方法需要一台具有较大可见视场的光学放大设备。

   2.试验程序

   GJB548方法⒛o9中要求放大检查,放大倍数为1,5~10倍,具体试验程序如下:试验过程中应采取放大检查,放大倍数为1.5~10倍,检查位置为器件的所有表面部位。然而,针对接收产品则要求放大10倍检查。针对玻璃密封器件,外观检查的放大倍数为7~10倍。在实际检查过程中发现有外来物时,可使用压强约为137kPa的洁净氮气或其他相似的气体对元器件进行吹除处理,以保证试验结果的准确性。