动态测试模式
发布时间:2019/5/15 20:26:33 访问次数:1652
动态测试模式
在动态测试模式下,单粒子辐照试验过程中,器件将周期性地进行图形的写入、等待、读出比较的操作过程,错误在读过程中被发现,在写过程中被纠正。
sRAM器件预先写入的测试图形可全“0”、全“1”,以及“55”“AA”等,可以是单一的测试图形,也可以是多种测试图形。
存储类器件除SRAM夕卜,还有EEPROM、PRoM、Flash等。这些存储类器件的单粒子翻转的测试方法可以参照“次M的测试方法进行。
动态测试模式
在动态测试模式下,单粒子辐照试验过程中,器件将周期性地进行图形的写入、等待、读出比较的操作过程,错误在读过程中被发现,在写过程中被纠正。
sRAM器件预先写入的测试图形可全“0”、全“1”,以及“55”“AA”等,可以是单一的测试图形,也可以是多种测试图形。
存储类器件除SRAM夕卜,还有EEPROM、PRoM、Flash等。这些存储类器件的单粒子翻转的测试方法可以参照“次M的测试方法进行。
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相关技术资料- 5-15动态测试模式
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