空间单粒子效应通常采用地面高能粒子加速器进行地面模拟实验,随着器件敏感性增加且封装形式越来越复杂,需要采用高能重离子和质子进行辐照试验。未来可利用高能重离子,进行能量衰减获得不同LET值的粒子,可以快速评估获得器件的全截面曲线。此外,对于叠层封装器件,需要采用更高穿透深度的质子进行地面辐照试验评估。

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   空间电离总剂量效应通常采用地面钴源进行辐照试验评估,为了更好地模拟空间效应,可采用电子加速器进行辐照。对于位移损伤效应评估,目前基于反应堆中子进行辐照试验,获得等效lM cV中子注量的指标,由于空间环境位移损伤效应主要由质子引起,可采用质子进行更好的模拟试验评估。此外,由于空间环境是一个综合的复杂环境,不同效应之间存在协同效应,为了更真实地模拟空问综合环境对电子器件的影响,未来也可能采用混合辐照的方法,更真实模拟空间效应的影响。