电源入口处串联二极管
发布时间:2019/1/12 20:39:28 访问次数:2071
既然高阻情况下测试,设备很容易就通过测试,那么在电源输入的入口处串联一个二极管,原理如图5.58所示,可以实现低阻状态到高阻状态的改变。根据测试结果,串联二极管后,再增加储能电容幻uF,能通过DC电源端口的所有测试要求。 LM4040AEX3-2.1-T
图5.58 电源入口处串联二极管
【思考与启示】
(1)全面理解电压中断测试的意思,中断测试分别模拟实际电压中断的两种情况,即高阻状态和低阻状态。高阻状态是由电源从一个交换到另一个时产生的;低阻状态是由清除一个过载或电源总线上的缺陷产生的,并可以引发从负载产生的反向电流(负的峰值冲击电 流)。高阻状态时,阻塞高阻抗负载的反向电流;低阻状态时,从低阻抗负载吸收负的冲击电流。
(2)从储能的角度讲,高阻状态下测试比较容易通过,因此在电源入口处串联二极管相当于将源的低阻抗变成高阻抗,有利于测试通过。
(3)在电源入口处串联二极管的前提下,产品或产品中局部电路储能电容的大小可以通过1/2C(σ1-叱)2=凡来计算,其中σl是正常工作电压,〃2是最低的但能使电路正常工作的电压;P是储能电容所供电路的J总功率,莎是跌落时间,C是所需储能电容的值。
既然高阻情况下测试,设备很容易就通过测试,那么在电源输入的入口处串联一个二极管,原理如图5.58所示,可以实现低阻状态到高阻状态的改变。根据测试结果,串联二极管后,再增加储能电容幻uF,能通过DC电源端口的所有测试要求。 LM4040AEX3-2.1-T
图5.58 电源入口处串联二极管
【思考与启示】
(1)全面理解电压中断测试的意思,中断测试分别模拟实际电压中断的两种情况,即高阻状态和低阻状态。高阻状态是由电源从一个交换到另一个时产生的;低阻状态是由清除一个过载或电源总线上的缺陷产生的,并可以引发从负载产生的反向电流(负的峰值冲击电 流)。高阻状态时,阻塞高阻抗负载的反向电流;低阻状态时,从低阻抗负载吸收负的冲击电流。
(2)从储能的角度讲,高阻状态下测试比较容易通过,因此在电源入口处串联二极管相当于将源的低阻抗变成高阻抗,有利于测试通过。
(3)在电源入口处串联二极管的前提下,产品或产品中局部电路储能电容的大小可以通过1/2C(σ1-叱)2=凡来计算,其中σl是正常工作电压,〃2是最低的但能使电路正常工作的电压;P是储能电容所供电路的J总功率,莎是跌落时间,C是所需储能电容的值。
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