1.接触模式

   从概念上来理解,接触模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那样,SA25F005L在整个扫描成像过程屮,探针针尖始终与样品表面保持亲密的接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖卜的力有可能破坏试样的表面结构,囚此力的大小范围在10Ⅱ~10ⅡN。若样品表面柔嫩而不能承受这样的力,便不宜选用接触模式对样品表面进行成像。

   2.非接触模式

   非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5~10nm的距离处振荡。这时,样品勹针尖之间的相互作用由范德华力控制,通常为10ⅡN,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染,特别适合于研究柔嫩物体的表面。这种操作模式的不利之处在于要在室温大气环境下实现这种模式十分困难,l,,l为样品表面不叮避免地会积聚薄薄的一层水,它会在样品与针尖之间搭起一小小的毛细桥,将针尖与表面吸在一起,从增加尖端对表面的压力。