设置容差参数包括确定参数变化模式， BS62LV8001EI-70以及指定容差大小两项内容。

   (1)参数变化模式的描述

   DEV模式：器件容差模式，又称为独立变化模式。如果生产的一批电路产品中，对应电路设计中同一个元器件的值相互独立，存在分散性，则称为独立变化模式。

   LOT模式：批容差模式，又称为同步变化模式。用于描述集成电路生产过程中，不同批次之间的元器件参数的容差可以同时变化，即它们的值同时变大或变小。

   组合模式：组合使用时，元器件首先按LOT模式变化，然后再按DEV模式变化。

   如何设置模型参数的变化模式应根据实际情况确定。如果设计的电路要用印制电路板(PCB)装配，则不同PCB中针对电路设计中同一个元器件采用的元器件参数将独立随机变化，就只需要选用DEV模式。但是如果在集成电路生产中，不同批次之间的元器件参数还存在起伏波动，就应该加上LOT模式，即采用组合模式。

   (2)容差大小的设置

   在描述参数变化规律的关键词DEV和LOT后面，应给出表示容差范围的数值。着数值后跟有百分号“%”，则代表相对变化百分数，否则仅表示变化容差的大小。